采用X-射线衍射(包括小角度衍射方法)研究了低温气相生长金刚石薄膜和单晶硅衬底之间的界面过度层。发现在较高温度下(700℃)过渡层为α-SiC,在较低沉积温度范围(580-290)℃过渡层则由α-SiC和SiO2所构成。对界面层中α-SiC和SiO2的晶体结构以及金刚石薄膜面间距进行了讨论

一、X射线的获得 1895年伦琴(Roentgen)发现故称为伦琴射线 波长范围:10埃~0.01埃 欲观察其衍射现象 则衍射线度应与其波长差不多 晶体的晶格常数恰是这样的线度

2-1 X射线的本质； 2-2 X射线的产生； 2-3 X射线谱； 2-4 X射线与物质相互作用； 2-5 X射线的探测与防护；

1895年伦琴发现X射线后,认为是一种波, 但无法证明。 当时晶体学家对晶体构造(周期性)也没 有得到证明。 1912年劳厄将X射线用于CuS04晶体衍射同时 证明了这两个问题,从此诞生了X射线晶体衍 射学

x射线发展史: 1895年德国物理学家伦琴在研究阴极射线时发现了X射线 (1901年获得首届诺贝尔奖) 1912年,德国的Laue第一次成功地进行X射线通过晶体发生衍 射的实验,验证了晶体的点阵结构理论。并确定了著名的晶体 衍射劳埃方程式

1-1、知识点及导学任务-第一编 总论 1-2、知识点及导学任务-第二编 衍射分析 1-3、知识点及导学任务-第三编 显微分析 1-4、知识点及导学任务-第四编 光谱、电子能谱分析 1-5、知识点及导学任务-第五编 其他测试方法 1-6、知识点详解汇总 晶体学 2 衍射分析 5 电子显微分析 20 紫外光谱分析 22 红外光谱分析 23 热分析 28 光电子能谱 32 未分类知识点 34

第一节 物相分析 第二节 点阵常数的精确计算 第三节 宏观应力的测量（选学） 第四节 晶体取向的测定（选学）

利用水热法制备AgSnO2粉体,压制烧结后制得AgSnO2块体样品.对AgSnO2粉体样品进行X射线衍射、扫描电镜和能谱分析,结果表明:通过在溶液体系中实现银和二氧化锡的共沉积,水热法能制得颗粒细小均匀的球形AgSnO2复合粉体.块体样品X射线衍射谱表明,水热法制备的AgSnO2粉体由于改变了Ag和SnO2的结合状态,烧结时二氧化锡晶体在(110)晶面上表现出一定的择优取向.对块体样品的显微组织分析表明,AgSnO2块体样品能够克服氧化物的聚集,二氧化锡颗粒在银基体中均匀弥散分布

本课程以周玉等编著的《材料分析测试 技术—材料X射线衍射与电子显微分析 为基本教材,其它可参考下列教材: 李树棠,晶体X射线学,1990,冶金工业

透射电子显微镜成像时,电子束是透过样 品成像。由于电子束的穿透能力比较低, 用于透射电子显微镜分析的样品必须很薄 根据样品的原子序数大小不同,一般在 50~500nm之间。制备透射电子显微镜分析 样品的方法很多,这里介绍几种常用的制 样方法