2.1 硬件设备 2.2 全站仪概述 2.2.1 全站仪的发展 2.2.2 全站仪的概念 2.2.3 全站仪的基本组成 2.2.4 全站仪的分类 2.2.5 防水等级 2.3 全站仪测量原理 2.3.1 电子测距原理 2.3.2 电子测角原理和方法 2.4 全站仪部件名称及功能 2.5 全站仪的检校 2.6 使用全站仪测图 2.7 数据通讯 2.7.1 数据通信的基本概念 2.7.2 全站仪通信参数的设置

压电式传感器是以某些晶体受力后在其表面产生电荷的压电效应为转换原理的传感器。它可以测量最终能变换为力的各种物理量，例如力、压力、加速度等。压电式传感器具有体积小、重量轻、频带宽、灵敏度高等优点。近年来压电测试技术发展迅速，特别是电子技术的迅速发展，使压电式传感器的应用越来越广泛。 6.1 基本原理分析 6.2 压电材料及压电元件的结构 6.3 测量电路 6.4 压电式传感器的应用

系统的抗干扰性能的好坏是影响系统可靠性的重要因 素。 14.1 干扰的来源 影响单片机测控系统正常工作的信号称为噪声，又称 干扰。 影响指令的正常执行，造成控制事故或控制失灵，在 测量通道中产生了干扰，就会使测量产生误差，电 压的冲击有可能使系统遭到致命的破坏。 干扰一般都是以脉冲的形式进入系统的， 窜入单片机系统的渠道主要有三条：

VC97数字万用表是一种性能稳定、可靠性 高的位万用表，仪表采用23mm字高LED显示器， 读数清晰。可用来测量直流电压、交流电压、直 流电流、交流电流、电阻、电容、频率、占空比、 三极管、二极管及通断测试；同时还设有单位符 号显示、数据保持、相对值测量、自动/手动量程 转换、自动断电及报警功能。其使用方法如下

一．测试线插孔 (1) 此万用表有四个测试线插孔，其中COM为黑表笔插孔。在左边有两个测试电流的红表笔插孔，“10A”和“mA–A”分别用来测量大电流（0~10A）和小电流（0~400mA）。最右边的红表笔插孔用来测量电流以外的其他量

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

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10.1 多项式插值问题 10.2 坐标测量仪测定的拟合 10.3 天体轨道测量拟合 10.4 静力学问题 10.5 材料力学的静不定问题 10.6 二自由度机械振动 10.7 交流稳态电路的复数矩阵 10.8 线性系统零输入响应的计算 10.9 计算频谱用的DFT矩阵 10.10 最优FIR滤波器设计 10.11 信号流图的矩阵建模求解 10.12 自动控制系统的矩阵建模

惠普公司的电子商务战略 一、惠普公司简介 惠普公司( ( hewlett-packard, www. hp.com)-packard,www.hp.com)是一家电子产品、测量系统、计算机系统 及通信系统的设计、制造和服务供应商,服务范围涉及工业、商业、工程、科学、医学及 教育等多个领域。惠普的经营宗旨是:促进科技知识进步,提高生产和工作效率。惠普的 产品包括计算机、计算机外围设备、电子测试测量仪及系统、网络产品、电子医疗设备、 化学分析仪器及系统、计算机以及元件等,共达29000种之多

第一节 电位分析法 Potentiometry 电位分析法基本原理 Fundamentals of potentiometry 参比电极 Reference electrodes 指示电极及离子选择电极 Indicator and ion selective electrodes 仪器及电动势测量 Instrumentation and measurement of cell electromotive force (e.m.f) 第二节 电导分析法 Conductometric analysis 四、电导分析法及应用 二、电导分析法的基本原理 一、概述 三、溶液电导的测量