实验利用单靶射频磁控溅射技术，在单晶硅基底上，制备了两个系列FeCrVTa0.4W0.4高熵合金氮化物薄膜，即FeCrVTa0.4W0.4氮化物成分梯度多层薄膜和(FeCrVTa0.4W0.4)Nx单层薄膜，其中，多层薄膜用于太阳光谱选择性吸收薄膜.通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射仪(XRD)、纳米力学探针、原子力显微镜(AFM)、紫外−可见分光光度计、接触角测量仪和四探针测试台对FeCrVTa0.4W0.4高熵合金氮化物薄膜进行微观结构分析以及性能表征

10.1物质对光的选择性吸收和吸收定律 10.2分光光度计 10.3显色反应及影响因素 10.4光度分析法的设计及误差控制 10.5常用的吸光光度法 10.6吸光光度法的应用

第一节 紫外可见分光光度法的基本原理和概念 第二节 紫外-可见分光光度计

第一节 基本原理 第二节 原子吸收分光光度计 第三节 实验方法

15.5 吸光度测量条件的选择 15.4 显色反应和显色条件的选择 15.3 分光光度计 15.2 光吸收定律 15.1 概述 15.6 吸光光度光法的应用

第一节 光学分析概论 一、电磁辐射和电磁波谱 二、光学分析法及其分类 三、光谱法仪器——分光光度计 第二节 紫外-可见吸收光谱 一、紫外-可见吸收光谱的产生 二、紫外-可见吸收光谱的电子跃迁类型 三、相关的基本概念 四、吸收带类型和影响因素

第一节 概述 第二节 原子吸收光谱的原理 第三节 原子吸收分光光度计

一、熟悉红外光谱的基本原理与应用。 二、了解红外分光光度计的主要部件和制样方法。 三、了解几类化合物红外光谱的主要特征及光谱解析的一般步骤

1、基本原理 2、原子吸收分光光度计 3、实验方法

一、1575年，西班牙医生N.Monardes发现。 二、 1852年，Sir George Stokes对荧光产生的机理作了解释，并提出了“荧光”。 三、 1867年，首次用于分析测定。 四、1928年，Jette和West提出第一台光电荧光计。 五、1952年，商品荧光分光光度计出现