1. XPS谱图的初级结构 1. 光电子谱峰 2. 俄歇电子谱峰 3. 价带谱 2. XPS谱图的次级结构

6.1、定量分析方法 6.1.1、第一性原理模型 First Principle Model 6.1.2、元素灵敏度因子法 6.1.3、定量精确度和误差来源 6.1.4、一个定量分析例子 6.2 深度剖析方法 6.2.1、深度分布信息 6.2.2、角分辨XPS深度剖析(d ~ λ) 6.2.3、离子溅射深度剖析(d>>λ) 6.2.4、在薄膜材料研究中的应用

1. 在聚合物材料中的应用 2. 在催化科学中的应用 3. 在冶金学中的应用 4. 在材料物理学中的应用 5. 在腐蚀科学中的应用

一、概述 表面分析技术(Surface Analysis)是对材料外层(the Outer-Most- Layers of Materials(<100A)的研究的 技术。包括:

生物大分子结构研究的方法概况 (1)X-光晶体衍射(Ⅹ-ray):这是目前生物 大分子结构解析最有效的一种方法,它有赖于 高度有序的三维晶体的获得。 (2)核磁共振(NMR):这种方法已成功地用于 菌视紫质及有机溶剂中细菌FF。一ATP酶的F膜 功能区的C单元的结构解析

电子能谱 根据激发源的不同,电子能谱又分为: X射线光电子能谱(简称XPS) X-Ray Photoelectron Spectrometer) 紫外光电子能谱(简称UPS) (Ultraviolet Photoelectron Spectrometer) 俄歇电子能谱(简称AES) (Auger Electron Spectrometer)

绪论 一、慨念:应用量子力学基本原理及现代试测方法研究微观粒子的结构,及其结构与物质的物理、化学性能之间的联系 二、微观粒子:原子分子配合物晶体等 三、现代试测方法:紫外红外核磁质谱X-衍射 UI IR NMR MS X-ray

通过对镀有不同厚度（0、15、30、60 μm）Cr涂层的TC4钛合金在不同氧压下进行的富氧点燃试验，研究了镀Cr层厚度对TC4钛合金燃烧性能的影响规律，并通过扫描电子显微镜（Scanning electron microscope, SEM）、能谱分析（Energy dispersive spectrometer，EDS）和X射线衍射（X-ray diffraction, XRD）等手段进行显微组织分析。结果表明：当Cr层厚度为15 μm和30 μm时，对TC4的燃烧临界氧压无明显影响，而Cr层厚度增加到60 μm时，可将TC4的燃烧临界氧压由0.07 MPa提高至0.15 MPa。同时，燃烧速率随Cr层厚度的增加而降低，说明Cr层厚度的增加能有效抑制火焰传播速度。其作用机理可能是在燃烧的过程中，表层Cr元素通过固相扩散、熔化等方式进入熔池，与合金中的Al、V元素共同析出，形成了弥散分布的富Cr、Al、V相，并减少了Al与O的结合，对O元素的扩散有阻碍作用，从而降低了燃烧速率