智能仪器可测试性设计 电子科学与工程学院 2004年6月
智能仪器可测试性设计 电子科学与工程学院 2004年6月
主要内容 可测试性概述 固有测试性设计 机内自测试技术-BIT 设计实例
主要内容 • 可测试性概述 • 固有测试性设计 • 机内自测试技术---BIT • 设计实例
随着计算机技术的飞速发展和大规模集成 电路的广泛应用,智能仪器在改善和提高 自身性能的同时,也大大增加了系统的复 杂性。这就给智能仪器的测试带来诸多问 题,如测试时间长、故障诊断困难、使用 维护费用高等,从而引起了人们的高度重 视。自20世纪80年代以来,测试性和诊断 技术在国外得到了迅速发展,研究人员开 展了大量的系统测试和诊断问题的研究, 测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性 并行发展的学科分支
• 随着计算机技术的飞速发展和大规模集成 电路的广泛应用，智能仪器在改善和提高 自身性能的同时，也大大增加了系统的复 杂性。这就给智能仪器的测试带来诸多问 题，如测试时间长、故障诊断困难、使用 维护费用高等，从而引起了人们的高度重 视。自20世纪80年代以来，测试性和诊断 技术在国外得到了迅速发展，研究人员开 展了大量的系统测试和诊断问题的研究， 测试性逐步形成了一门与可靠性、维修性 并行发展的学科分支
可测试性是系统和设备的一种便于测试和 诊断的重要设计特性,对各种复杂系统尤 其是对电子系统和设备的维修性、可靠性 和可用性有很大影响。可测试性设计要求 在设计研制过程中使系统具有自检测和为 诊断提供方便的设计特性。具有良好测试 性的系统和设备,可以及时、快速地检测 与隔离故障,提高执行任务的可靠性与安 全性,缩短故障检测与隔离时间,进而减 少维修时间,提高系统可用性,降低系统 的使用维护费用
• 可测试性是系统和设备的一种便于测试和 诊断的重要设计特性，对各种复杂系统尤 其是对电子系统和设备的维修性、可靠性 和可用性有很大影响。可测试性设计要求 在设计研制过程中使系统具有自检测和为 诊断提供方便的设计特性。具有良好测试 性的系统和设备，可以及时、快速地检测 与隔离故障，提高执行任务的可靠性与安 全性，缩短故障检测与隔离时间，进而减 少维修时间，提高系统可用性，降低系统 的使用维护费用
可测试性概述 可测试性与可测试性设计 测试性要求 测试方案 可测试性设计优点
可测试性概述 • 可测试性与可测试性设计 • 测试性要求 • 测试方案 • 可测试性设计优点
可测试性概述 可测试性 可测试性( Testability)是指产品能够及时准确地 确定其自身状态(如可工作,不可工作,性能下 降等)和隔离其内部故障的设计特性。 可控制性( Controllability 可观测性( Observability 可预见性( Predictability)
可测试性概述 • 可测试性 可测试性（Testability）是指产品能够及时准确地 确定其自身状态（如可工作，不可工作，性能下 降等）和隔离其内部故障的设计特性。 可控制性(Controllability) 可观测性(Observability) 可预见性(Predictability)
可测试性概述 可测试性设计 (Design For Testability--DFT) 是一种以提高产品测试性为目的的设计方 法学
可测试性概述 • 可测试性设计 (Design For Testability — DFT) 是一种以提高产品测试性为目的的设计方 法学
可测试性概述 测试性要求 在尽可能少地增加硬件和软件的基础上, 以最少的费用使产品获得所需的测试能 力,简便、迅速、准确地实现检测和诊 断
可测试性概述 • 测试性要求 在尽可能少地增加硬件和软件的基础上， 以最少的费用使产品获得所需的测试能 力，简便、迅速、准确地实现检测和诊 断
可测试性概述 可测试性设计优点 1.提高故障检测的覆盖率; 2.缩短仪器的测试时间; 3.可以对仪器进行层次化的逐级测试 4.降低仪器的维护费用。 可测试性设计缺点 1.额外的软/硬件成本; 2.系统设计时间增加
可测试性概述 • 可测试性设计优点 1．提高故障检测的覆盖率； 2．缩短仪器的测试时间； 3．可以对仪器进行层次化的逐级测试 4．降低仪器的维护费用。 • 可测试性设计缺点 1．额外的软/硬件成本； 2．系统设计时间增加
固有测试性设计 总体设计 通用设计准则
固有测试性设计 • 总体设计 • 通用设计准则