第一节 活塞式压缩制冷设备的主要装置 第二节 活塞式压缩制冷设备的附属装置 第三节 冷藏库 第四节 速冻设备 第五节 气调冷藏设备

1 概率极限状态设计法和疲劳设计的容许应力法 2 钢结构材料 3 钢结构的连接设计 4 轴心受力构件设计 5 受弯构件设计 6 拉弯和压弯构件设计

第1章 VLSI概论 第1部分 硅片逻辑 第2章 MOSFET逻辑设计 第3章 CMOS集成电路的物理结构 第4章 CMOS集成电路的制造 第5章 物理设计的基本要素 第2部分 从逻辑到电子电路 第6章 MOSFET的电气特性 第7章 CMOS逻辑门电子学分析 第8章 高速CMOS逻辑电路设计 第9章 CMOS逻辑电路的高级技术 第3部分 VLSI系统设计 第10章 用Verilog硬件描述语言描述系统 第11章 常用的VLSI系统部件 第12章 CMOS VLSI引运算电路 第13章 存储器与可编程逻辑 第14章 系统级物理设计 第15章 VLSI时钟和系统设计 第16章 VLSI电路的可靠性与测试

12.1 回归设计的基本概念 12.2 一次回归正交设计 12.3 二次回归的中心组合设计 12.4 二次回归正交设计 12.5 二次回归旋转设计

一.测设工作的概念 1.定义:测设,又称放样,是测绘的逆过程。根据待建建、构筑物各特征点与 控制点之间的距离、角度、高差等测设数据,以控制点为根据,将各特征点在 实地桩定出来

1.一组样本与总体的比较 2.两组样本的比较(成组设计) 3.两组样本的比较(配对设计) 4.单因素多组样本的比较(成组设计) 5.双因素多组样本的比较(配伍组设计) 6.三因素三组及以上设计(拉丁方设计) 7.三个或以上因素并交互作用(正交设计)

第一节 直接加热杀菌设备 第二节 板式杀菌设备 第三节 管式杀菌设备 第四节 釜式杀菌设备 第五节 CIP装置

第一节 分类和选择及操作流程 第二节 单效真空浓缩设备 第三节 升膜式、降膜式浓缩设备 第四节 真空浓缩装置的附属设备 第五节 真空浓缩设备的主要计算

❖ 过滤速率的强化 ➢ 发酵液的预处理 ➢ 过滤介质选择 ❖ 过滤设备 ➢ 板框式及板式压滤机 ➢ 真空过滤机 ❖ 离心分离设备 ➢ 分离原理与分离因数 ➢ 常用离心机结构及选型 ❖ 膜分离设备 ➢ 膜分离方法 ➢ 膜分离设备

第一节 活塞式压缩制冷设备的主要装置 第二节 活塞式压缩制冷设备的附属装置 第三节 冷藏库 第四节 速冻设备 第五节 气调冷藏设备