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重 点 之 一:Ge、Si和GaAs的晶体结构 重 点 之 二:Ge、Si和GaAs的能带结构 重 点 之 三:本征半导体及其导电机构、空穴
文档格式:PPT 文档大小:1.06MB 文档页数:88
1.1晶体结构预备知识,半导体晶体结构 1晶体结构的描述(有关的名词) 格点:空间(一维或多维)点阵中的点(结点) 晶列:通过任意两格点所作的(晶列上有一系列格点)
文档格式:PPT 文档大小:2.19MB 文档页数:40
中国科学技术大学:半导体薄膜的制备和性能测试实验的特殊性及教学尝试(PPT讲稿)
文档格式:DOC 文档大小:42.5KB 文档页数:5
博士研究生入学考试《半导体物理》课程考试大纲
文档格式:DOC 文档大小:43KB 文档页数:5
博士研究生入学考试《半导体物理》课程考试大纲
文档格式:PPT 文档大小:5.42MB 文档页数:43
中国科学技术大学:《半导体器件原理》课程教学资源(PPT课件)绪论 Principle of Semiconductor Devices(主讲:徐军)
文档格式:PPS 文档大小:89.5KB 文档页数:1
放大电路 半导体、PN结、 BJT载流子运动 物理、化学
文档格式:PDF 文档大小:506.24KB 文档页数:20
复旦大学:《导纳谱测量半导体量子限制效应》参考资料_实验介绍
文档格式:DOC 文档大小:127KB 文档页数:4
上海交通大学:《材料综合实验》课程教学资源(实验指导)物理性能_实验三(I)探针测量半导体或金属薄膜电阻率
文档格式:PDF 文档大小:1.13MB 文档页数:29
复旦大学:《导纳谱测量半导体量子限制效应》参考资料_导纳谱测量系统使用说明 Manual for Admittance Spectroscopy Measurement System
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