一、 一块边长为 97.6mm 的方孔口径的光 栅，其每个透光狭缝宽度 a=0.244 ,光栅周期 d=0.976 。光栅放在一焦距 =97.6cm 的会聚 透镜的前面，透镜口径比光栅口径大。用波 长 =0.488 的单色平行光束垂直照射该光 栅，光束充满该光栅口径。试解下列问题：

1.平面透射光栅光强公式 2.多缝衍射光栅光强分布 3.光栅的三个参量

第一章 光的干涉.3 第二章 光的衍射.15 第三章 几何光学的基本原理.27 第四章 光学仪器的基本原理.49 第五章 光的偏振.59 第六章 光的吸收、散射和色散.70 第七章 光的量子性.73

将光量转换为电量的器件称为光电传感器或光 电元件。光电式传感器的工作原理是:首先把 被测量的变化转换成光信号的变化,然后通过 光电转换元件变换成电信号。光电传感器的工 作基础是光电效应

一、旋光现象 1、旋光现象偏振光通过某些物质后,其振动面将以光的传播方向为轴线转过一定的角度 2、旋光物质能产生旋光现象的物质.(如石英晶体、糖溶液、酒石酸溶液等)

1关键器件 以光网络构建高速、大容量的信息网络系统需要重点解决高速光传输、复用与解复用技术等问题。 (1)光纤传输 通常单模光纤(SMF)色散很大,对抑制四波混频(FWM)引起的干扰有一定作用,但需要很多的色散来补偿光纤(DCF)实践表明 SMF(G.652)和DSF(G.653)用于DWDM系统时,其自相位调制(SPM)、交叉相位调制(XPM)的危害较小,没有想象的那么严重。 过去DSF光纤的FWM干扰严重,不宜作WDM系统,然而采用拉曼放大后,其放大作用是沿光纤分布而不是集中的,因而发送的光功 率可减小,FWM干扰可降低。色散补偿是长距离大容量WDM系统必然遇到的一个问题,如果想得到一个又宽又平的波段,那么对色散 补偿器件的色散和色散斜率须有一定要求

超精密光学元件是决定高端装备性能的核心元件，在大科学装置、精密仪器等领域中被广泛应用。对光学元件进行高精度检测是保证元件质量的重要途径。光学检测技术因具有非破坏性、高精度而成为光学元件检测的有效技术。首先，对超精密光学元件主要检测技术进行了综述，重点介绍技术原理、研究现状和应用瓶颈；其次，针对光学检测技术中的相位解调问题，以波长移相测量技术为例，结合超精密平面光学元件检测，概述了相位解调算法的原理与实现过程，并对其性能进行综合评估；最后，展望光学元件检测技术的未来发展趋势

§2.1 电磁波与光辐射 §2.2 光辐射的度量 §2.3 黑体辐射 §2.4 光源 §2.5 光源调制与旋光效应调制器

第一篇 光学镜头加工制作实验 . 1 实验一 光学镜头综合实验. 1 实验二 透镜铣磨机使用实验. 21 实验三 圆弧球心型小口径镜片研磨机. 28 实验四 六轴弧摆抛光机. 31 第二篇 光通信无源器件制作实验 . 36 实验五 光纤端面处理耦合及熔接实验 . 36 实验六 光纤跳线制作实验. 40 实验七 熔融拉锥制作光纤耦合器实验 . 69

§2.5 高斯光束的基本性质及特征参数 §2.6 高斯光束q参数的变换规律 §2.7 高斯光束的聚焦和准直 §2.8 高斯光束的自再现变换 §2.9 光束衍射倍率因子M2