§3.1 紫外和可见光谱仪简介 §3.2 影响紫外光谱的因素 §3.3 几类常见化合物的紫外光谱分析 §3.4 无机化合物紫外光谱分析 §3.5 荧光光谱简介

内容包括：有趣的空间滤波、高温超导材料性能测试(一)、高温超导材料性能测试(二)、光纤干涉式温度传感器、偏振光实验(一)、偏振光实验(二)、全息照相(一)、全息照相(二)、夫琅禾费衍射、迈克耳孙干涉仪、微波布拉格衍射、分光计、弗兰克-赫兹实验(一)、弗兰克-赫兹实验(二)、力学实验、测定固体材料的热导率、测定不良导体的热导率、测定良导体的热导率、核磁共振实验、核磁共振成像、真空镀膜、相对论、用霍尔效应测量磁场、弹性模量的测定、X射线衍射、X射线标识谱与吸收

2.1紫外-可见吸收光谱 (UV-Vis Absorption Spectroscopy) 2.2 Lambert-Beer定律 (Lambert-Beer's Law) 2.3紫外-可见分光光度计 (UV-Vis Spectrophotometer) 2.4分析条件的选择 (Optimization of Analytical Conditions) 2.5紫外-可见分光光度法的应用 (Applications of UV-Vis Spectrophotometry)

第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

本文通过在EM400T透射电镜上用一些标准成分的样品进行薄膜无标样成份分析实验,检验了EDAX9100能谱仪的分析准确度。在本试验所用的样品范围内,其准确度为:近邻元素同一X光线系分析相对误差为5~10%,非近邻元素不同线系分析相时误差较大,可达20~50%。试验证明在分析元素的质量吸收系数之差Δμ较大时,还必须考虑吸收修正。通过对K因子的讨论,得出与本实验结果符合比较好的薄膜能谱理论公式组合为:取BeThe-Powell公式的电离截面QBP∞(1n0.65U)/U·Ej2,K系、L系、M系的线系常数调整后取bK:bL:bM=0.35:0.35:0.24,荧光产额用Bambynek的ωK和wentzel的ωL和ωM。用以上公式组合并经过吸收修正,对所有线系计算结果相对误差小于10%

文本综述了Grimm辉光电光源(以下简称GDL)的发展过程,基本原理,放电灯的结构与放电特性等。总结了在发射光谱分析中用这种光源对钢,合金及岩石,矿物粉末样品中各元素的分析;介绍了一些分析工作者对灯体结构的改进以及这一技术在原子吸收、原子荧光光谱分析及其它分析领域中的应用

一、黑体辐射的实验规律 1.热辐射 由于物体内分子、原子的热运动，一切物体都以电磁 波形式向外辐射能量，其功率和波长只取决于物体的 温度，称为热辐射 例：物体在温度升高时颜色的变化－辐射频率不同 物体发射能量的同时，又吸收周围其它物体的辐射能

将工业纯铝分别用硫酸和磷酸进行阳极氯化,再交流电解着色镍制作光/热转换薄膜.绪果用砒酸阳极氧化,在所采用的工艺参数范围内着色困难,而磷酸阳极氧化着色容易。用超薄切片技术及透射电镜观察膜的形貌,发现上述结果与用两种酸阳极氧化后得到的多孔性氧化膜的孔的底部直径大小有关,而与膜上部孔径关系不大。用磷酸进行阳极氧化,寻找到一种交流电解着深黑色的方法,并获得太阳光谱范围吸收率α=0.93,远红外热幅射率ε=0.26的光热转换薄膜

( 一 ) 概述 SPECORD 200 是德国耶拿（蔡司）公司生产的高档双光束双检测器分光光度计，它提供 了样品和参比的同步测量。 双光路 SPECORD 200 同步测量能量数据，这些数据可以直接评估或者可以转换成透射或 吸收数据，浓度的测定是通过使用一个因子或运行一次校准来实现的，可以进行动力学测定

§9.1 吸光光度法基本原理 §9.2 光度计及其基本部件 §9.3 显色反应与条件的选择 §9.4 吸光度测量条件的选择 §9.5 吸光光度法的应用 §9.6 紫外吸收光谱法简介