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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第12章 Soc测试(1/2)
文档格式:PDF 文档大小:1.19MB 文档页数:24
SoC设计的基本概念 IEEE P1500协议 SoC的DFT策略的探讨
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第10章 电流测试
文档格式:PDF 文档大小:4.47MB 文档页数:57
IDDQ的定义 IDDQ测试原理 IDDQ可检测的故障
《半导体工艺原理》课程教学课件(PPT讲稿)第2章 集成电路工艺介绍
文档格式:PPT 文档大小:2.87MB 文档页数:61
《半导体工艺原理》课程教学课件(PPT讲稿)第2章 集成电路工艺介绍
《半导体工艺原理》课程教学课件(PPT讲稿)第2章 集成电路工艺介绍
文档格式:PPT 文档大小:2.87MB 文档页数:61
《半导体工艺原理》课程教学课件(PPT讲稿)第2章 集成电路工艺介绍
《高频电子线路》课程教学资源(应用实例)实例八 新型窄带调频接收机集成电路MC3362347的应用
文档格式:DOC 文档大小:55KB 文档页数:2
《高频电子线路》课程教学资源(应用实例)实例八 新型窄带调频接收机集成电路MC3362347的应用
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第11章 存储器测试
文档格式:PDF 文档大小:3.95MB 文档页数:68
① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第8、9章 内建自测试
文档格式:PDF 文档大小:3MB 文档页数:80
理解BIST(Built-in Self-Test)的原理 掌握LFSR的原理 掌握BIST的结构
《电子线路》 第四章(4-4) 差分放大器
文档格式:PPT 文档大小:2.09MB 文档页数:70
第4章放大器基础 4.4差分放大器 差分放大器具有抑制零点漂移的作用,广泛用于集成电路的输入级,是另一类基本放大器
《单片机》第1章 单片机概述
文档格式:PPT 文档大小:95.5KB 文档页数:6
何谓单片机一台能够工作的计算机要有这样几个 部份构成:CPU(进行运算、控制)、RAM(数 据存储)、ROM(程序存储)、输入/输出设备 (例如:串行口、并行输出口等)。在个人计算 机上这些部份被分成若干块芯片,安装一个称之 为主板的印刷线路板上。而在单片机中,这些部 份,全部被做到一块集成电路芯片中了,所以就 称为单片(单芯片)机,而且有一些单片机中除 了上述部份外,还集成了其它部份如A/D,D/A 等
北京大学:《集成电路原理与设计 Principle of Integrated Circuits》课程电子教案(数字集成电路原理与设计)chap3-1 第三章 长沟道MOS器件模型
文档格式:PDF 文档大小:4.42MB 文档页数:70
3.1.1 MOS晶体管阈值电压分析 3.1.2 MOS晶体管电流方程 3.2.1 MOS晶体管的亚阈值电流 3.2.2 MOS晶体管的瞬态特性 3.2.3 MOS器件模型
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