研究了不同固溶温度和稳定化处理工艺后GH864合金的裂纹扩展情况.通过分析合金的微观组织,断口形貌以及lga-lgNi/Nf、da/dN-a及da/dN-N曲线特征,定量计算了裂纹萌生期、稳态扩展期及失稳瞬断期在整个疲劳断裂过程中所占比例,并进一步分析影响各自比例的微观组织因素.结果表明:随着固溶温度的升高,晶粒尺寸增加,合金的裂纹扩展速率降低,同时裂纹的萌生期的比例降低,而裂纹的扩展期比例则会增加;随稳定化时间的延长和温度的升高,晶界碳化物析出量增加,降低了合金的裂纹扩展速率,但是裂纹萌生期的比例在逐渐增加

§5-1 压杆稳定性的概念 §5-2 细长压杆的临界压力欧拉公式 §5-3 压杆的临界应力及临界应力总图 §5-4 压杆的稳定性计算

§2.6 原子核的结合能 §2.7 原子核稳定性的经验规律 §2.8 原子核的液滴模型 §2.9 原子核结合能的半经验公式

10-1压杆稳定性的概念 10-2细长压杆临界力的欧拉公式 10-3超过比例极限时压杆的临界应力 10-4压杆的稳定校核及其合理截面

研究了工作4.0×104 h后的GH132合金的组织变化，分析了GH132合金在高于650℃短时过时效条件下的组织稳定性.结果表明：合金组织基本稳定，变化不甚显著；不论是在低温长期时效，还是在短时超温过时效，σ相、Laves等脆性相均不会产生；经过过时效后合金所产生的组织变化仅仅是γ'相的补充析出、聚集长大，以及η相的析出

4-1稳定问题的一般特点、分类一一难点 4-2轴心受压构件的整体稳定性

对交流电场作用下定向凝固组织的研究发现,交流电场对定向凝固组织有细化作用,且随电流的增大,其效果越明显,同时交流电场使凝固界面的溶质含量减小．通过对电场各种作用的分析发现：界面的化学势的减小使界面的稳定性增加；但界面能的增大、活度系数的减小以及界面溶质层内的震荡会使界面变薄,使界面的稳定性减小,从而破坏了胞晶的稳定生长,使柱状胞晶变成细碎的晶体．

电路在一定条件下可以处于稳定状态,但条件 发生变化时电路的状态就会发生变化。并且, 任何稳定状态都是由其它状态转换来的。 在实际情况下,状态的转变往往不是突变的, 而需要一个过程即过渡过程。电路中也有过 渡过程,如电路中的电容或电感等储能元件的存 在,则在电源接通后电容通过充电而升高电压, 这一过程是渐变的;电感则由于电磁感应作用而 使电流不能立即达到稳定值,也是渐变过程

本文从二元系中稳定化合物与液相平衡关系入手,导出了由稳定化合物的熔化焓计算二元系活度的新公式。通过对In-Sb二元系的活度计算验证了本方法的可行性,并用这一新方法预报了半导体Ga-As二元系的活度

建立了高浓度水煤浆长距离管道输运中非稳定段里的数学模型,对模型的求解可以预测非稳定段长度、压力梯度及总的压力损失。模型略作修改后可以计算流量突变后管内阻力损失的变化过程。实验验证了模型的正确性