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喷射沉积H13钢的组织和硬度
文档格式:PDF 文档大小:1.07MB 文档页数:5
用传统铸造和喷射成形工艺制备了H13钢,然后再进行锻造加工,利用光学金相显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射分析(XRD)等分析方法及硬度测试对不同工艺制备的H13钢的显微组织和硬度进行分析.研究结果表明,喷射成形及其锻造加工的H13钢的组织及硬度明显的优于传统工艺制备的H13钢
以煤泥为还原剂海滨钛磁铁矿直接还原焙烧反应历程
文档格式:PDF 文档大小:606.4KB 文档页数:6
研究以煤泥为还原剂,印尼某海滨钛磁铁矿在直接还原焙烧过程中,不同焙烧温度下矿物组成变化规律.X射线衍射和扫描电镜分析结果表明,随着焙烧温度的升高,钛磁铁矿逐渐被还原.其中铁矿物经过浮士体(FeO),最终被还原成金属铁;而钛则经过钛尖晶石最终生成钛铁矿和少部分的铁板钛矿.在整个直接还原焙烧过程中,金属铁颗粒在1100℃左右生成,然后不断长大,在1250℃时金属铁颗粒明显增多,在之后的保温过程中,金属铁颗粒不断长大,并在此过程中将金属铁从中分离出来
缓冲层对NiCo薄膜各向异性磁致电阻的影响
文档格式:PDF 文档大小:658.73KB 文档页数:4
用磁控溅射法制备了以NiFeCr和Ta分别为缓冲层的两种NiCo薄膜样品,在不同温度下对两种样品退火.结果表明:在NiCo厚度相同的情况下,以NiFeCr作为缓冲层的样品的各向异性磁致电阻(AMR)值明显高于Ta作为缓冲层的样品.X射线衍射(XRD)的结果表明,NiFeCr/NiCo薄膜的晶粒平均尺寸大于Ta/NiCo薄膜,且两种样品的磁膜/缓冲层界面存在较大差异,这可能是造成两者AMR差异的原因.此外,对样品进行温度适当的热处理可以明显改善薄膜的物理性质
铁铝碳永磁合金的负温效应
文档格式:PDF 文档大小:804.5KB 文档页数:10
应用示差冲击法、磁分析以及x射线衍射等方法研究了铁铝碳永磁合金在低温下的稳定性。试验表明该合金在低温下剩磁感应强度发生不可逆变化——负温效应,既有结构时效又有磁时效。结构时效的主要原因来自残留γ相向过饱和α相的转变,磁时效在重新充磁后则可以完全恢复。並且指出生产中欲防止负温效应,既要进行结构稳定化,又要进行磁稳定化处理
湖南大学:《材料测试技术(材料X射线衍射与电子显微分析)》课程教学资源(PPT课件讲稿)第六章 宏观应力测定
文档格式:PPT 文档大小:343.5KB 文档页数:28
一、引言 二、单轴应力测定原理 三、面应力测定原理 四、试验方法 五、试验精度的保证及测试原理的适用条件
La2O3-CeO2-ZrO2粉的制备及性能
文档格式:PDF 文档大小:376.3KB 文档页数:3
利用化学共沉淀法制取锆酸镧(La2Zr2O7,简称LZ)和La2O3-CeO2-ZrO2(简称LCZ)热障涂层喷涂粉,采用电感耦合等离子体光谱仪(ICP-AES)对粉的化学成分进行分析,用X射线衍射仪分析LZ,LCZ的物相组成,用差式扫描量热法研究粉的高温相稳定性.结果表明:LZ,LCZ粉均为烧绿石结构;高温下LZ,LCZ无明显相变
钢表面化学气相沉积钽涂层的研究
文档格式:PDF 文档大小:656.35KB 文档页数:7
本文研究了Ta-Cl2-H2体系在45钢表面化学气相沉积钽涂层工艺,讨论了钽的沉积速度与温度、五氯化钽和氢气压力之间的关系。本文还扼要介绍了用金相、x射线衍射和电子探针分析等方法测定涂层结构的研究结果。腐蚀试验结果表明,涂层样品在37.7%HCl,63%H2SO4介质中具有很高的抗蚀能力,其腐蚀速率比未涂层的可降低2~3个数量级
矿渣胶凝材料固结尾砂的微观实验
文档格式:PDF 文档大小:1.51MB 文档页数:6
用X射线衍射、扫描电镜和热重!差示扫描量热方法表征了矿渣胶凝材料的水化产物和微观结构,研究了矿渣胶凝材料对尾砂固结过程的影响.微观实验结果表明:矿渣胶凝材料的水化产物主要为水化硅酸钙凝胶(C-S-H)、钙矾石(AFt)及少量的帕水钙石(Ca2Al4Si4O15(OH)2·4H2O)和沸石类矿物,随着养护时间的延长,矿渣胶凝材料在水化过程中发生晶体结构重组和重排;尾砂中的方英石、云母和碳酸盐类矿物(方解石、白云石等)是尾砂固结过程中的活性成分,能生成其他晶体矿物和胶凝状矿物,这是导致固结体微观结构不同的主要原因
氢致304L不锈钢晶体结构变化与相变
文档格式:PDF 文档大小:403.26KB 文档页数:5
利用X射线衍射方法,研究了304L不锈钢中电解充氢过程和随后时效过程中的氢致奥氏体结构变化和氢致马氏体相变。结果表明,电解充氢可导致奥氏体晶格膨胀和马氏体相变,α’相和ε相同时出现,并且在室温时效过程中并不能消失
《材料分析测试技术》课程PPT教学课件(讲稿)第四章 X射线衍射方法的实际应用
文档格式:PPT 文档大小:1.64MB 文档页数:88
任何一种晶体材料的点阵常数都与它所处的状 态有关。 当外界条件(如温度、压力)以及化学成分、 内应力等发生变化,点阵常数都会随之改变。 这种点阵常数变化是很小的,通常在10-5nm量级。 精确测定这些变化对研究材料的相变、固溶体 含量及分解、晶体热膨胀系数、内应力、晶体 缺陷等诸多问题非常有作用。所以精确测定点 阵常数的工作有时是十分必要的
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