第一节 X射线特征谱 第二节 Laue方程 第三节 Bragg方程 第四节倒易点阵 第五节 衍射的Ewald作图与衍射方法 第六节 衍射系统消光与衍射强度

本课程以周玉等编著的《材料分析测试 技术—材料X射线衍射与电子显微分析 为基本教材,其它可参考下列教材: 李树棠,晶体X射线学,1990,冶金工业

§9.1 X射线晶体结构分析原理 9.1.1 晶体的X射线衍射效应 9.1.2 衍射方向和晶胞参数 9.1.3 衍射强度与晶胞中原子的分布 9.1.4 X射线粉末法 9.1.5 单晶衍射法—四圆衍射仪 §9.2 分子光谱 9.2.1 分子光谱选律 9.2.2 双原子分子的转动光谱 9.2.3 双原子分子的振动光谱 9.2.3 双原子分子的振转光谱 9.2.4 多原子分子的振动光谱 9.2.6 Ramman光谱 9.2.7 双原子分子的电子光谱 9.2.8 多原子分子的电子光谱 9.2.9 光电子能谱 §9.3 核磁共振谱NMR 9.3.1 核的自旋和核磁矩 9.3.2 核磁共振谱 9.3.3 化学位移

在联用自动可调光栏[注]的条件下,推导了采用极薄平板样品时衍射X射线积分强度的近似公式。提出了在X射线定量相分析工作中采用极薄样品的可能性。我们的试验结果表明,采用极薄样品是可行的,但误差较大。考虑到在许多研究工作中,样品的数量常常很少,因此采用极薄平板样品是有实用价值的

介绍了基于X射线二维探测器织构的快速检测原理.以无间隙原子钢冷轧板织构的检测为例,用常规织构的检测结果作为参照标准,分析了各种X射线二维衍射条件对计算取向分布函数的影响.实验表明,用二维探测器可以同时采集多个极图的数据,合理减少样品转动,织构的检测仅需几分钟时间,且织构的检测结果与用传统X射线衍射法的一致

第三节 晶体对X射线的衍射、第四节 晶体结构分析简介 第五节 粉晶X射线衍射法(XRD) 第六节 物相分析方法

用X射线衍射及氧含量分析法测定了Sm1+xBa2-xCu3Oy固溶区域为0 ≤ x ≤ 0.4。当x<0.25时,Sm1+xBa2-xCu3Oy属正交晶系;x=0.25时,发生从正交到四方的相变;在整个固溶区域内,Tc随x的增加而下降,直至淬灭。同时探讨了Sm1+xBa2-xCu3Oy化合物在不同的淬火温度、氧含量与晶体结构、超导电性的关系

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