第一章半导体材料导电型号、电阻率、少数载流子寿命的测量 第二章化学腐蚀一光学方法检测晶体缺陷和晶向 第三章霍尔系数、迁移率和杂质补偿度的测量 第四章外延片的物理测试 第五章红外吸收光谱在半导体测试技术中的应用 第六章扫描电子显微镜及其在半导体测试技术中的应用 第七章透射电子显微镜晶体缺陷分析 第八章Ⅹ射线在半导体测试技术中的应用 第九章结电容和CV测试技术 第十章半导体中痕量杂质分析

1微分方程()n+-y2+x2=0的阶数是 2若M(x,y)和N(x,y)在矩形区域R内是(,y)的连续函数且有连续的一阶偏导数则方程M(x,y)dx+N(x,y)dy=0有只与y有关的积分因子的充要条件是

圆的面积 单位圆的面积等于  计算第一象限内的单位圆的面积， 方法为：把它分成n个窄的曲边梯形， 计算S大，S小，其中n可以为1000, 10000,

Origin 是 Microcal Software 公司推出的一个功能强大的数据分析/科学绘图软件， 作为 Windows 应用程序，具备了 Windows 所提供的诸多方便直观的特点，尤其适用 于那些经常进行大量数据处理及科学绘图的人员使用。现流行的版本为 2.8, 3.0, 3.5, 5.0, 6.0, 6.1, 6.1 版本的特色主要有： 1) 动态用户界面：计划组织；用计划管理器组织计划，对选择的窗口批处理

1．理解总体、个体、简单随机样本和统计量的概念，掌握样本均值、样本方差及样本矩的计算

一、教学要求： 1、 掌握随机变量的数学期望和方差的概念、性质及计算 ； 2、 掌握随机变量函数的期望 ；

一、抽样数据的描述统计 二、随机变量及其概率分布 三、随机变量的数学期望 四、随机变量的方差 五、常用随机变量的分布 六、应用案例

背景日常工作、生活中的决策问题 涉及经济、社会等方面的因素 ·作比较、判断时人的主观选择起相当 主要作用,各因素的重要性难以量化 t.l.Saaty于1970年代提出层次分析法一 -AHP(Analytic Hierarchy Process)

有限单元法是利用电子计算机进行数值模拟分析的方法,目前在工程技术领域中的应用十 分广泛,有限元计算结果已成为各类工业产品设计和性能分析的可靠依据。国际上著名的通用 有限元软件有几十种,常用的如SAP、 ANSYS、ADNA、 NASTRAN、 ALGOR-FEM等

煤矸石堆积 煤矿采煤时,会产出无用废料—一—煤矸石。在平原地区 煤矿不得不征用土地堆放矸石。通常矸石的堆积方法是: 架设一段与地面角度约为B=25的直线形上升轨道(角 度过大,运矸车无法装满),用在轨道上行驶的运矸车将矸 石运到轨道顶端后向两侧倾倒,待矸石堆高后,再借助矸石 堆延长轨道,这样逐渐堆起如下图所示的一座矸石山来。 现给出下列数据