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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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 理解BIST(Built-in Self-Test)的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
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东北大学:某学院应用通信工程专业《电路分析与设计》课程教学大纲
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单片机系列《proteus》指导书(6.7)第二章 电路原理图设计
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1.1 将下列各式写成按权展开式: (352.6)10=3×102+5×101+2×100+6×10-1 (101.101)2=1×2
文档格式:PPT 文档大小:221.5KB 文档页数:21
1.1 (1) (2) (3) (4) 1.3 (1) (2) 1.4 (1) (2) (3) 1.8 (1) (2) (3) 1.7 (1) (2) (3) 1.6 (1) (2) (3)
文档格式:PPT 文档大小:91.5KB 文档页数:21
1.1 (1) (2) (3) (4) 1.3 (1) (2) 1.4 (1) (2) (3) 1.8 (1) (2) (3) 1.7 (1) (2) (3) 1.6 (1) (2) (3)
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同济大学:《逻辑网络》课程电子教案(PPT课件)异步时序电路分析与设计 Introduction to asynchronous circuits design
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
文档格式:PDF 文档大小:7.05MB 文档页数:30
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
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