3.1 离子晶体的若干简单结构形式 3.2 离子键和点阵能 3.3 离子的溶剂化能 3.4离子半径

8.1水中溶解物质的去除 8.2离子交换基本知识 8.3离子交换软化 8.4离子交换除盐 8.5离子交换的应用

配位化合物又称络合物,是一类含有中心金属 原子(M)和若千配位体(L)的化合物(ML)中心 原子M通常是过渡金属元素的原子(或离子,具 有空的价轨道;而配位体L则有一对或一对以上 孤对电子M和L之间通过配位键结合成为带电 的配位离子,配位离子与荷异性电荷的离子相结 合,形成配位化合物有时中心原子和配位体直接 结合成不带电的中性配位化合物分子 个配位化合物分子(或离子)中只含一个中心 原子的叫单核配位化合物含两个或两个以上中 心原子的叫多核配位化合物在多核配位化合物 中若MM之间有键结合在一起的叫做金属簇化之合物

离子交换分离是目前最重要和应用最广泛的分离方法之一,不但能用于分离性质相近的无机离子,而且可以用来分离多种有机化合物,可用于分析分离,也可用于制备。 离子交换分离是应用极广的,如净化水,分离和提取物质,离子交换色谱等

电化学的基本概念和法拉第定律 离子的电迁移和迁移数 电解质溶液的电导 第一节 电解质溶液的导电性 第二节 离子的电迁移和迁移数 •离子的电迁移现象 •电迁移率和迁移数 •离子迁移数的测定 第三节 电解质溶液的电导 •电导、电导率、摩尔电导率 •电导的测定 •电导率、摩尔电导率与浓度的关系 •离子独立移动定律和摩尔电导率 第四节 电导测定的一些应用

在两种不同离子或离子相同而活度 不同的液/液界面上,由于离子扩散速 度的不同,能形成液接电位,它也可私 为扩散电位。扩散电位不仅存在于液 液界面,也存在于固体膜内,在离子选 择电极的膜中可产生扩散电位

采用双层辉光离子渗金属技术在纯铁表面进行Ni-Cr-Mo-Nb多元共渗.结果表明:双层辉光离子Ni-Cr-Mo-Nb多元共渗可以在工业纯铁表面形成合金元素成分呈梯度分布镍基表面合金层.对双层辉光离子Ni-Cr-Mo-Nb多元共渗存在成分离析现象从合金元素的扩散原理探讨了其产生的机制

1范围 本法适用样品中硫离子浓度范围101~103mg/L,检测下限浓度为0.2mg/L经六个以上实 验室验证,本法可用于制革、化工、造纸、印染等工业废水以及地表水中硫离子含量的测定。 工业废水大多色深、浑浊,含有机物、阳离子、阴离子,成份复杂;且硫离子极易被氧 化,不易保持稳定的浓度

探讨了ZnTiO3薄膜掺杂Cu元素对于薄膜性质、相变化与微结构之影响.实验是在一定温度下以射频磁控溅镀系统将铜沉积于ZnTiO3陶瓷靶上,控制沉积于ZnTiO3陶瓷靶上铜含量之后,再沉积掺杂铜的钛酸锌薄膜于SiO2/Si基板上.成长出来的薄膜经由ESCA分析得知铜的质量分数分别为0.84%、2.33%和2.84%.从XRD分析常温下掺杂Cu的ZnTiO3薄膜为非晶质态,经过600℃退火后,ZnTiO3薄膜则由非晶质态转变成Zn2Ti3O8结晶相,而未掺杂铜的ZnTiO3薄膜在600℃退火时并没有结晶相产生.ZnTiO3薄膜经过900℃退火后,Zn2Ti3O8相分解成Zn2TiO4相和TiO2相,且ZnTiO3晶格常数因为Cu离子置换至Zn离子的位置有变小的趋势.由TEM分析证实Cu离子与Zn离子的置换,导致晶格应变产生双晶缺陷.经由XRD、SEM和TEM分析得知掺杂太多的铜会抑制TiO2相的生成,而随着过多的Cu析出,晶体平均晶粒慢慢变小晶格应变也随之降低,以致晶格常数回复往原来晶格常数方向趋近

8-1电解质溶液的电导和测定方法 8-2离子的电迁移和迁移数 83极限迁移数,离子淌度与离子电导 8-4强电解质溶液的理论 8-5强电解质溶液的电导理论 8-6离子的水化(溶剂化)作用