第六章 数据库设计 6.1 数据库设计的步骤 6.2 需求分析 6.3 概念结构设计 6.4 逻辑结构设计 6.5 数据库物理设计 6.6 数据库实施 6.7 数据库运行维护 第七章 关系数据库管理系统实例 7.1 关系数据库管理系统产品概述 7.2 ORACLE 7.3 Sybase 7.4 INFORMIX 7.5 DB2 7.6 INGRES 7.7 MS-SQLSERVER 7.8 MySQL 7.9 OpenGauss等华为DBMS产品 第八章 现代数据库技术及进展 8.1 数据库发展概述 8.2 数据库技术与其他技术的结合 8.3 现代数据库技术研究

一.测设工作的概念 1.定义:测设,又称放样,是测绘的逆过程。根据待建建、构筑物各特征点与 控制点之间的距离、角度、高差等测设数据,以控制点为根据,将各特征点在 实地桩定出来

生产工艺流程设计的目的是通过图解的形式 ,表示出在生产过程中,由原、辅料制得成 品过程中物料核能料发生的变化及流向,以 及表示出生产中采用哪些药物制剂加工过程 及设备(主要是物理过程、物理化学过程及 设备),为进一步进行车间布置、管道设计 及计量控制设计等提供依据

7.1 伪指令 7.2 算术运算程序的设计 7.3 循环程序的设计 7.4 查表程序的设计 7.5 检索程序的设计 7.6 分支程序的设计 7.7 码制转换程序的设计 7.8 逻辑操作程序

什么是优化设计? 优化设计是一种寻找确定最优设计方案的技术。所谓“最优设计”,指的 是一种方案可以满足所有的设计要求,而且所需的支出(如重量,面积,体 积,应力,费用等)最小。也就是说,最优设计方案就是一个最有效率的方 案 设计方案的任何方面都是可以优化的,比如说:尺寸(如厚度),形状 (如过渡圆角的大小),支撑位置,制造费用,自然频率,材料特性等。实际 上,所有可以参数化的ANSYS选项都可以作优化设计。(关于ANSYS参数

15.1 单片机应用系统的设计步骤 15.2 单片机应用系统设计 15.2.1 硬件设计应考虑的问题 15.2.2 典型的单片机应用系统 15.2.3 系统设计中的总线驱动 15.2.4 软件设计考虑的问题 15.2.5 软件的总体框架设计 15.3 单片机应用系统的仿真开发与调试

1.一组样本与总体的比较 2.两组样本的比较(成组设计) 3.两组样本的比较(配对设计) 4.单因素多组样本的比较(成组设计) 5.双因素多组样本的比较(配伍组设计) 6.三因素三组及以上设计(拉丁方设计) 7.三个或以上因素并交互作用(正交设计)

寻址存储器（RAM 和 ROM） ROM 和 RAM 属于通用大规模器件，一般不需要自行设 计，特别是采用 PLD 器件进行设计时； 但是在数字系统中，有时也需要设计一些小型的存储器 件，用于特定的用途：临时存放数据，构成查表运算等。 此类器件的特点为地址与存储内容直接对应，设计时将 输入地址作为给出输出内容的条件；

将去耦电容直接放在IC封装内可以有效控制EMI并提高信号的完整性,本文从IC内 部封装入手,分析EM的来源、IC封装在EM控制中的作用,进而提出11个有效控制EM 的设计规则,包括封装选择、引脚结构考虑、输出驱动器以及去耦电容的设计方法等,有助 于设计工程师在新的设计中选择最合适的集成电路芯片,以达到最佳EM抑制的性能 现有的系统级EM控制技术包括

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