 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

编码阶段的主要任务是把设计阶段所产生的设计结果翻译成计算机能够理解并执行的程序

1.机床的性能要求 （1）机床的工艺范围 机床可完成加工工序种类； 加工零件类型； 材料和尺寸范围，毛坯种类

一、面向对象的概念 二、建立表单 三、管理表单 四、运行表单 五、常用表单控件

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）

• Synthesizable • Some experiences ➢ Balance architecture ➢ Share resources ➢ Gated signal ➢Assignment statement ➢ Accident / Intentional Latch • Other syntax rules

• Topics Covered • Requirements • Others Info