第一阶段:传统的光学装置及仪器,不能胜任对 复杂光信息高速采集和处理的要求 第二阶段:半导体集成电路技术,可以将探测器 件及电路集成在一个整体中,也可以将具有多个 检测功能的探测器件集成在一个整体中。其价格 低,体积小。例如,将图形、物体等具有二维分 布的光学图像转换成电信号的检测器件是把基本 的光电探测器件组成许多网状阵列结构,引人注 目的器件CCD就是一种将阵列化的光电探测与扫 描功能一体化的固态图像检测器件。它是把一维 或二维的光学图像转换成时序电信号的器件,能 广泛引用于自动检测、自动控制,尤其是图像识 别技术

1引言 一、按版图设计自动化程度分: 手工设计 半自动设计 全自动设计 二、按版图结构及制造方法分 半定制(semi- -custom) 全定制(full- custom)

第一节 组合机床及其自动线 第二节 数控机床 第三节 现代制造技术

6－1 系统校正设计基础 6－2 串联校正 6－3 串联校正的理论设计方法 6－4 反馈校正 6－5 复合校正

8-1 采样过程与采样定理 8-2 信号的恢复与零阶保持器 8-3 z变换与z反变换 8-4 脉冲传递函数 8-5 采样系统的性能分析 8-6 采样系统的数字校正

5－1 频率特性 5－2 典型环节的频率特性 5－3 系统的开环频率特性 5－4 频率稳定判据 5－5 系统闭环频率特性与阶跃响应的关系 5－6 开环频率特性与系统阶跃响应的关系

TOPSwitch器件三个引脚的功能简要如下 漏极脚( DRAIN):接输出管 MOSFET漏极,在启动工作时,经过 内部开关电流源提供内部偏置电流。该脚还是内部电流检测点。 控制脚( CONTROL):是误差放大器和反馈电流输入脚,以控制占 空系数。正常工作时内部分流调节器接通,提供内部偏置电流。该脚 也接电源旁路和自动再启动/补偿电容器

9-1 状态空间方法基础 9-2 线性系统的可控性和可观性 9-3 状态反馈和状态观测器 9-4 有界输入、有界输出的稳定性 9-5 李雅普诺夫第二方法

3－1 时域分析基础 3－2 一、二阶系统分析与计算 3－3 系统稳定性分析 3－4 稳态误差分析计算

7-1 非线性问题概述 7-2 常见非线性因素对系统运动特性的影响 7-3 相平面法基础 7-4 非线性系统相轨迹分析 7-5 描述函数 7-6 用描述函数分析非线性系统