 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

第一节 组织只能及其作用 第二节 组织结构设计 第三节 组织结构的基本类型：2学时 第四节 非正式组织：2学时

7.1 概述 7.2 多孔吸声材料 7.3 共振吸声结构 7.4 特殊吸声结构 7.5 吸声设计

8.1 概述 8.2 隔声结构 8.3 隔声装置 8.4 隔声设计

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）

• Synthesizable • Some experiences ➢ Balance architecture ➢ Share resources ➢ Gated signal ➢Assignment statement ➢ Accident / Intentional Latch • Other syntax rules

• Topics Covered • Requirements • Others Info