触发器 、实验目的 1.验证基本RS触发器、D触发器、J-K触发器的逻辑功能 2.熟悉常用触发器的使用方法 3.了解各类触发器间的相互转换方法。 实验原理 触发器是具有记忆功能的基本单元,在时序电路中是必不可少的。触发器具有两个基 本性质: 1.在一定条件下,触发器可以维持在两种稳定状态(0或1状态)而保持不变; 2.在一定的外加信号作用下,触发器可以从一种状态转变成另一稳定状态(1→0或0→1), 因此,触发器可记忆二进制数0或1,被用作二进制数的存贮单元。 双稳态触发器按不同的逻辑功能可分为RS触发器(图6-1),J-K触发器(图6-2),D触 发器(图6-3)和T触发器等类型 通过对基本RS,D,T,J-K触发器的逻辑功能的测试及其相互间的转换,进一步了解 各触发器的工作原理及其触发方式。 S DCP Ro O R 图6-1RS触发器 图6-2J-K触发器 图6-3D触发器 实验内容与要求 本实验在数字技术实验箱上进行,输入数据用逻辑开关设置,用发光二极管LED显示 触发器的输出状态。 1.基本RS触发器逻辑功能测试 用学习机中与非门集成芯片74LS00接成一 & 基本RS触发器,测试当RD与SD输入不同状态 “1或0”时,触发器初始状态Qn分别为“0”或“1” 时输出端Qn1的相应逻辑状态,并记入表6-1, 图6-4基本RS触发 RD与SD分别接到学习机的逻辑开关,按表6-1 置“1”或置“0”,Q端接发光二极管
触发器 一、实验目的 1.验证基本 RS 触发器、D 触发器、J-K 触发器的逻辑功能； 2.熟悉常用触发器的使用方法； 3.了解各类触发器间的相互转换方法。 二、实验原理 触发器是具有记忆功能的基本单元，在时序电路中是必不可少的。触发器具有两个基 本性质： 1.在一定条件下，触发器可以维持在两种稳定状态(0 或 1 状态)而保持不变； 2.在一定的外加信号作用下，触发器可以从一种状态转变成另一稳定状态(1→0 或 0→1)， 因此，触发器可记忆二进制数 0 或 1，被用作二进制数的存贮单元。 双稳态触发器按不同的逻辑功能可分为 RS 触发器(图 6-1)，J-K 触发器(图 6-2)，D 触 发器(图 6-3)和 T 触发器等类型。 通过对基本 RS，D，T，J-K 触发器的逻辑功能的测试及其相互间的转换，进一步了解 各触发器的工作原理及其触发方式。 图 6-1 RS 触发器 图 6-2 J-K 触发器 图 6-3 D 触发器 三、实验内容与要求 本实验在数字技术实验箱上进行，输入数据用逻辑开关设置，用发光二极管 LED 显示 触发器的输出状态。 1.基本 RS 触发器逻辑功能测试 用学习机中与非门集成芯片 74LS00 接成一 基本 RS 触发器，测试当 R D 与 S D 输入不同状态 “1”或“0”时，触发器初始状态 Qn 分别为“0”或“1” 时输出端 Qn+1 的相应逻辑状态，并记入表 6-1， R D 与 S D 分别接到学习机的逻辑开关，按表 6-1 置“1”或置“0”，Q 端接发光二极管。 D CP R D S D Q R D Q S D Q Q CP R D S D Q Q J K 图 6-4 基本 RS 触发 器 Q Q RD SD
表 6-1 Q Q Q 0 0 1 0 1 0 2.D触发器逻辑功能的测试 (1)直接置位端SD,复位端RD的功能测试 选用双D触发器集成芯片74LS74,分别将置“0端RD和置“1”SD接到学习机的数据 开关置“1”或置“”,Q端接发光二极管,分别测试触发器的状态,记入表6-2。 表6-2 Q D R O X代表触发器状态任意:即初状态O为0”或“1”时,触发器D输入端为“0”或“1”都可。 (2)D触发器逻辑功能的测试 改变输入端D的状态,在CP端加单次脉冲,测试当Q。=0及Q。=1时,Qn:1的逻辑状 态,写出其真值表 3.J-K触发器逻辑功能测试 (1)直接置位端S,复位端RD的功能测试 选用双J-K触发器集成芯片74LS112,测试当S及RD不同时触发器的逻辑状态, 记入表6-3中。 表6-3 Qn Q X 1 X (2)J-K触发器逻辑功能测试 改变J、K的状态,在CP端加单脉冲,测试当Qn=0及Q=1时,Q1的逻辑状态,写 出其真值表。 4触发器逻辑功能转换测试 (1)将D触发器转换成T触发器
表 6-1 R D S D Qn Qn+1 Qn Qn+1 0 0 0 1 0 1 0 1 1 0 0 1 1 1 0 1 2.D 触发器逻辑功能的测试 (1)直接置位端 S D ,复位端 R D 的功能测试 选用双 D 触发器集成芯片 74LS74,分别将置“0”端 R D 和置“1”端 S D 接到学习机的数据 开关置“1”或置“0”，Q 端接发光二极管，分别测试触发器的状态，记入表 6-2。 表 6-2 Qn D R D S D Qn+1 X X 1 X X 1 X 代表触发器状态任意：即初状态 Qn 为“0”或“1”时，触发器 D 输入端为“0”或“1”都可。 (2)D 触发器逻辑功能的测试 改变输入端 D 的状态，在 CP 端加单次脉冲，测试当 Qn =0 及 Qn =1 时， Qn+1 的逻辑状 态，写出其真值表。 3.J-K 触发器逻辑功能测试 (1)直接置位端 S D ，复位端 R D 的功能测试 选用双 J-K 触发器集成芯片 74LS112，测试当 S D 及 R D 不同时触发器的逻辑状态，并 记入表 6-3 中。 表 6-3 Qn J K R D S D Qn+1 X X X 1 X X X 1 (2)J-K 触发器逻辑功能测试 改变 J、K 的状态，在 CP 端加单脉冲，测试当 Qn =0 及 Qn =1 时， Qn+1 的逻辑状态，写 出其真值表。 4.触发器逻辑功能转换测试 (1)将 D 触发器转换成 T 触发器
T触发器的逻辑功能是每来一个时钟脉冲,触发器就翻转一次,即Qn1=Qn,具有计 数功能。自拟实验电路图,写出真值表,在CP端加单脉冲,测试逻辑功能, (2)将J-K触发器转换成T触发器 自拟实验电路图,并按真值表设置T端的状态,测试触发器的逻辑功能。 (3)将D触发器转换成J-K触发器 欲使D触发器具有J-K触发器的功能,需用门电路组成一个转换电路,自拟实验电路 图,并测试逻辑功能。 四、实验设备 实验室提供的设备见表6-4 表6-4 名称 型号与规格 数量 双踪示波器 X.J-620C 1台 数字电子实验箱 RTSD-6B 与非门 74LS00 2片 D触发器 74LS74 1片 J-K触发器 74LS112 1片 五、实验报告要求 1.整理测试数据填入表格,说明逻辑功能 2.画出与CP脉冲相应的各触发器输出端波形,并说明其触发方式; 3.画出触发器相互转换电路图,说明转换后的逻辑功能和触发方式与转换前有何改变 4.画出J-K触发器与D触发器之间的相互转换电路。 六、注意事项 1.注意各芯片电源及接地端的联接; 2.注意各芯片每个引脚的作用。 七、思考题 1.如果要想使基本RS触发器具有计数功能,应如何改进电路?画出逻辑图 2.J-K触发器Q=0时,如要求时钟脉冲CP到来后使触发器处于“1”态,J、K两端应预先 分别是什么状态? 3.主从型J-K触发器和维持阻塞型D触发器的触发边沿有何不同?
T 触发器的逻辑功能是每来一个时钟脉冲，触发器就翻转一次，即 Qn+1 = Qn ，具有计 数功能。自拟实验电路图，写出真值表，在 CP 端加单脉冲，测试逻辑功能。 (2)将 J-K 触发器转换成 T 触发器 自拟实验电路图，并按真值表设置 T 端的状态，测试触发器的逻辑功能。 (3)将 D 触发器转换成 J-K 触发器 欲使 D 触发器具有 J-K 触发器的功能，需用门电路组成一个转换电路，自拟实验电路 图，并测试逻辑功能。 四、实验设备 实验室提供的设备见表 6-4。 表 6-4 名称 型号与规格 数量 双踪示波器 XJ-620C 1 台 数字电子实验箱 RTSD-6B 1 台 与非门 74LS00 2 片 D 触发器 74LS74 1 片 J-K 触发器 74LS112 1 片 五、实验报告要求 1.整理测试数据填入表格，说明逻辑功能； 2.画出与 CP 脉冲相应的各触发器输出端波形，并说明其触发方式； 3.画出触发器相互转换电路图，说明转换后的逻辑功能和触发方式与转换前有何改变； 4.画出 J-K 触发器与 D 触发器之间的相互转换电路。 六、注意事项 1.注意各芯片电源及接地端的联接； 2.注意各芯片每个引脚的作用。 七、思考题 1.如果要想使基本 RS 触发器具有计数功能，应如何改进电路？画出逻辑图。 2.J-K 触发器 Qn =0 时，如要求时钟脉冲 CP 到来后使触发器处于“1”态，J、K 两端应预先 分别是什么状态？ 3.主从型 J-K 触发器和维持阻塞型 D 触发器的触发边沿有何不同？
