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1. Why CMOS? 2. CMOS Process Step

一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成

 SoC设计的基本概念  IEEE P1500协议  SoC的DFT策略的探讨

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法