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 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障
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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
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一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
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复旦大学:《设计性研究性物理实验》学生论文_集成IV变换器与除法器在光学实验中的应用
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中国地质大学(武汉):《数字逻辑实验》课程教学资源(实验内容)实验四 集成电路测试及研究(设计性)
文档格式:PDF 文档大小:1.42MB 文档页数:72
复旦大学:《集成电路工程》教学资源(硕士士学位论文)分数分频频率综合器中噪声折叠问题的研究与电路设计
文档格式:PPT 文档大小:4.78MB 文档页数:67
6.4 计数器 6.4.3 集成计数器 6.5 时序逻辑电路的设计方法
文档格式:PDF 文档大小:674.81KB 文档页数:73
复旦大学:《集成电路工程》教学资源(硕士士学位论文)功率检测电路设计
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