本文研究了显色液中不存在有机酸根阴离子时,钛的硫酸溶液与5-Br-PADAP在乙醇介质中生成蓝色络合物的形成条件及主要性质。测定了络合物组成比。发现硫酸根的存在不仅影响了络合物的消光度,而且使吸收光谱曲线的形状发生变化。说明硫酸根已作为配位基进入络合物组成。同时着重讨论了有机溶剂对显色反应的影响。证实了此体系混配络合物是络阴离子,其分子式应以（TiO（HR）（SO4）2）2-或（TiO（R）（SO4）2）3-表示,这是用Johnson等人以及的电中性络分子式所不能表示的。以外,本文也报导了用于测定钛时服从比尔定律的范围以及外来离子的干扰行为

酶的稳定性较差:除了某些耐高温的酶,如α-淀粉酶、Taq酶等;和 胃蛋白酶等可以耐受较低的p条件以外,大多数的酶在高温、强酸、 强碱和重金属离子等外界因素影响下,都容易变性失活

8.5.1配位场化学 化合物着色的最重要的来源是过渡族元素 (cr,mn,fe,o,Ni)或稀土元素离子(钕、铒、钬 等),它们或出现于固溶体中,或以晶体的固有阳离 子存在。 这些元素在电子占据轨道方面不同于主族元素。如对 于过渡族元素,主要涉及能量很相近的部分添满的3d 轨道(简并能级)

在这一章中,将解释污染对器件工艺、器件 性能和器件可靠性的影响,以及芯片生产区域存 在的污染类型和主要的污染源。同时也简要介绍 洁净室规划、主要的污染控制方法和晶片表面的 清洗工艺等 5.2污染类型 微粒金属离子化学物质细菌 ·微粒器件对污染物的敏感度取决于特征图形的 尺寸和晶体表面沉积层的厚度。由于特征图形尺 寸越来越小,膜层厚度越来越薄,所允许存在的 微粒尺寸也必须控制在更小的尺度上

比较五种石墨管对锑的干扰的影响,实验结果表明:石墨管中引入微管或平台后,由于具有好的空间等温性,可明显地抑制外来离子对锑的干扰;而石墨管热解涂层对抑制锑干扰有显著影响。镍的干扰在使用双管(1)时虽得到抑制,但仍无法消除。实验表明:采用Mo+W难熔碳化物涂层处理,并加入EDTA及峰面积测定方式可消除镍对锑的干扰

论述了新型天线技术的发展现状。液体天线用离子液体或液态金属等构成天线,构造灵活,使用场合广泛;铁电材料通过可调的高介电常数特性获得辐射特性可变的天线;而薄膜天线依托柔性材料技术的进步,易于制作轻质复杂的天线,适用于航空航天领域;

6.3介质的损耗 6.3.1介电损耗的形式 电介质在电场作用下,内部通过电流有以下内容: :电容电流:由样品的几何电容充电引起电流(位 移电流); :介质极化的建立引起电流:与极化松弛等有关; ÷:介质的电导(漏导)造成的电流:与自由电荷有关。 能量损耗:松弛极化损耗、电导损耗、离子变形和振动损耗

1.写出下列化合物在pH为2.7-12的水溶液中的离子式 (1)异亮氨酸 (2)天门冬氨酸 (3)赖氨酸 (4)甘甘 (5)赖-甘 (6)丙天门冬缬 (2.预测下列a-氨基酸的等电点范围:

本章要求：本章在物质结构基本理论的基础上，介绍由一种特殊的共价键形成的配合物的组成、命名和基本性质，用价键理论和晶体场理论讨论配位键的本质，配离子的形成、空间构型和配合物的一些实际应用。1．掌握一般配合物的组成、命名和基本性质。2．明确配合物价键理论的基本要点,了解晶体场理论的基本内容，并能用其讨论一般配合物形成磁性、空间构型、稳定性等性质。3．了解配合物的一些实际应用

4-1.1 电化学分析法及其分类 电化学分析法是利用物质的电学及电化学性质进行分析测试的一种方法。它通常 是使待测试液构成一化学电池，尔后再依据该电池的某些物理量(如电位、电流或电量、 电阻等)与其化学量之间的内在联系进行测定