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上海交通大学:《通信基本电路》课程教学资源(实验报告)通信基本电路实验-第056组(组长任政)设计报告
文档格式:DOC 文档大小:3.66MB 文档页数:58
上海交通大学:《通信基本电路》课程教学资源(实验报告)通信基本电路实验-第056组(组长任政)设计报告
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导(可编程逻辑实验)实验十二 移位相加8位乘法器电路设计
文档格式:DOC 文档大小:18.5KB 文档页数:3
《数字电路与逻辑设计》课程实验指导(可编程逻辑实验)实验十二 移位相加8位乘法器电路设计
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第8、9章 内建自测试
文档格式:PDF 文档大小:3MB 文档页数:80
理解BIST(Built-in Self-Test)的原理 掌握LFSR的原理 掌握BIST的结构
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第12章 Soc测试(2/2)IEEE P1500 嵌入式核可测性标准
文档格式:PDF 文档大小:4.58MB 文档页数:44
一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
文档格式:PDF 文档大小:3.2MB 文档页数:42
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第10章 电流测试
文档格式:PDF 文档大小:4.47MB 文档页数:57
IDDQ的定义 IDDQ测试原理 IDDQ可检测的故障
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第11章 存储器测试
文档格式:PDF 文档大小:3.95MB 文档页数:68
① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
文档格式:PDF 文档大小:7.05MB 文档页数:30
电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
南京邮电大学:《数字电路与系统》课程教学资源(PPT课件讲稿)第四章 组合逻辑电路 习题课
文档格式:PPT 文档大小:1.66MB 文档页数:45
4.19 解: 设计思路:用同余的概念,也就是说 (0011)余3BCD → (0000)8421BCD
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