5.1 分析图题 5.1 所示时序电路的逻辑功能，假设电路初态为 000，如果在 CP 的 前六个脉冲内，D 端依次输入数据 1, 0, 1, 0, 0, 1，则电路输出在此六个脉冲 内是如何变化的？

3.1-(A⊕B)⊕(C⊕D)奇偶校验器 (b)y-A+B+A+B=a+ab…或功能 3.2(a)y=ab+(+)+D= (b)y=A+AC+BC全加器 Y2=A⊕BC全加器

一、实验目的 1．掌握中规模集成译码器、数据选择器的逻辑功能和使用方法。 2．了解译码器的应用。 3．学习用数据选择器构成组合逻辑电路的方法

2.1 有两个TTL与非门G1和G2，测得它们的关门电平分别为: UOFF1=0.8 V, UOFF2=1.1V；开门电平分别为：UON1=1.9V, UON2=1.5 V。它们的输出高电平和低 电平都相等，试判断何者为优（定量说明）。 2.2 试判断图题2.2所示TTL电路能否按各图要求的逻辑关系正常工作？ 若电路的接法有错，则修改电路。 图题 2.2

1.1用真值表证明下列恒等式 (1)⊕B=A⊙B=AB1 (2)A(B⊕C)=AB⊕AC (3)(A+B)(A+C)(B+C)=(a+B)(a+C)

一、实验目的 1．掌握中规模 4 位双向移位寄存器逻辑功能及使用方法。 2．熟悉移位寄存器的应用：实现数据的串行、并行转换和构成环形计数器

一、实验目的 1．掌握基本 RS 触发器、 JK 触发器、 D 触发器和T 触发器的逻辑功能。 2．熟悉各类触发器之间逻辑功能的相互转换方法

一、实验目的 1．掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2．学会CMOS集成门电路主要参数的测试方法

一、实验目的 l．掌握 CMOS 集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。 2．学会 CMOS 集成门电路主要参数的测试方法 二、实验原理 1．CMOS 集成电路是将 N 沟道 MOS 晶体管和 P 沟道 MOS 晶体管同时用于一个集成电路中，成为组合二种沟道 MOS 管性能的更优良的集成电路，CMOS 集成电路的

一、实验目的 l.掌握中规模4位双向移位寄存器74LS194逻辑功能及使用方法。 2.熟悉移位寄存器的应用