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第六章 Verilog的数据类型及逻辑系统 • 学习Verilog逻辑值系统 • 学习Verilog中不同类的数据类型 • 理解每种数据类型的用途及用法 • 数据类型说明的语法 第7章 结构描述(structural modeling) • 如何使用Verilog的基本单元(primitives) • 如何构造层次化设计 • 了解Verilog的逻辑强度系统 第8章 延时模型 学习内容: 1. 如何说明块延时 2. 如何说明分布延时 3. 如何说明路径延时 4. 怎样在模块中说明时序检查 5. 标准延时格式SDF(Standard Delay Format) 第九章 编译控制的使用 • 开发商提供的Verilog库 • 用Verilog库仿真 • Verilog源代码加密 • 其它仿真器相关的问题
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§ 1.1 引论 信号(signal) 系统(system) §1.2 信号的描述和分类 •信号的分类 •典型确定性信号 §1.3 信号的运算 •信号的自变量的变换 移位 反褶 尺度 一般情况 •微分和积分 •两信号相加或相乘 §1.4 阶跃信号和冲激信号 •单位斜变信号 •单位阶跃信号 •单位冲激信号 •冲激偶信号 §1.5 信号的分解 §1.6 系统模型及其分类 •系统的定义和表示 •描述系统的基本单元方框图 •系统的分类 §1.7 线性时不变系统 •线性特性 •时不变特性 •线性时不变系统的微分特性 •因果性 §1.8 系统分析方法
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通过本课程的学习,使学生建立线性离散系统控制理论的基本概念,掌握线性离散系统分析和设计的一般规律。使学生能够利用脉冲传递函数对离散系统的稳定性、稳态误差、动态性能进行分析,实现对离散系统的设计。本课程还要求学生掌握非线性控制系统的基本内容,掌握非线性控制系统的特点,非线性特性的线性化,非线性特性对系统的影响,利用相平面法及描述函数法对非线性系统进行分析。本课程的学习将为后续课程的学习打好基础,也为学生以后从事实际工作和科研奠定一定的理论基础。教学重点、难点:1、线性离散系统控制理论的基本概念,信号的离散化与信号保持器,Z变换定理。2、闭环脉冲传递函数的求取,系统动、静态特性的分析。3、离散系统的设计(串联模拟校正,最少拍系统的设计)。4、非线性控制系统的特点,非线性特性的线性化,非线性特性对系统的影响。5、非线性系统的描述函数分析;6、相轨迹的绘制与分析。奇点及奇线的分析与确定,自激振荡存在性及自振参数的确定
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系统发育学研究的是进化关系,系统发育分析就是要推断或者评估这些进化关系。通过系统 发育分析所推断出来的进化关系一般用分枝图表(进化树)来描述,这个进化树就描述了同 一谱系的进化关系,包括了分子进化(因树)、物种进化以及分子进化和物种进化的综 合。因为 cl ade这个词(拥有共同祖先的同一谱系)在希腊文中的本意是分支,所以系统 发育学有时被称为遗传分类学(cl adi sti cs)。在现代系统发育学研究中,研究的重点已经不 再是生物的形态学特征或者其他特性,而是生物大分子尤其是序列
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针对平整轧制过程不同用途带钢对表面微观形貌的特殊要求,在批量跟踪电火花毛化轧辊、磨削轧辊和冷轧后带钢表面微观形貌的基础上,建立工作辊与带钢都可考虑真实表面粗糙峰的带钢表面微观形貌轧制转印生成模型,采用工业实验验证了仿真模型的准确性,并据此模型分析轧制前带钢已经具有表面粗糙度分别大于、等于、小于轧辊表面粗糙度时,带钢表面微观形貌的轧制转印行为与遗传演变规律。提出了负转印和转印饱和的概念,定义了两种极限轧制转印状态的描述指标— —负转印最大和转印饱和,研究发现当带钢表面粗糙度小于或等于轧辊表面粗糙度时,存在负转印最大点和转印饱和点;当带钢表面粗糙度大于轧辊表面粗糙度时,负转印最大点和转印饱和点重合。在此基础上,采用负转印最大点与转印饱和点对应的临界板宽轧制力,描述带钢表面微观形貌的遗传及演变规律,并系统仿真分析带钢屈服强度、带钢轧前表面粗糙度、轧辊表面粗糙度等工艺条件参数对于负转印最大点与转印饱和点对应的临界单位板宽轧制力的影响规律,发现随着带钢屈服强度增大和轧辊表面粗糙度增加,该临界单位板宽轧制力均增大;随着带钢表面粗糙度增大,负转印最大点对应的临界单位板宽轧制力增大,但转印饱和点对应的临界单位板宽轧制力却减小
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Bouc–Wen模型在非识别激励工况下模拟的阻尼力与实际阻尼力误差较大,对非识别激励振幅过于敏感,针对这一问题,提出了一种描述减振器滞回特性的改进模型。首先用Mechanical testing and simulation(MTS)疲劳试验机对磁流变减振器进行力学性能试验,获得在多种激励幅值、频率和电流作用下的阻尼力。采用阻尼力对位移的斜率与阻尼力关系来模拟滞回环特性曲线。根据滞回曲线特点利用二次多项式函数来表征滞回环斜率与阻尼力的关系,同时,引入关于速度的指数函数修正项,进而对改进后的Bouc–Wen模型进行参数识别,并对其进行仿真及验证。与试验得到的阻尼力进行对比,发现在非识别激励工况下,曲线吻合效果较好。对改进前后Bouc–Wen模型模拟的阻尼力特性曲线进行对比,结果表明:改进后模型得到的阻尼力仿真值能够较好地模拟试验得到的各种工况下阻尼力的值,且优于Bouc–Wen模型,同时Bouc–Wen模型在非识别激励工况下模拟阻尼力精度较差这一问题得到了改善。新模型为保证车辆悬架系统在多变工况下仿真响应的准确性打下了基础
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Varela免疫网络模型是继Jerne独特性网络模型之后的第二代网络模型,Varela免疫网络模型描述的是没有外来抗原作用时的T、B细胞因子的动态平衡关系.本文在此基础上建立了一种考虑抗原的改进的Varela免疫网络模型.然后基于这种能够在一定程度上合理描述生物免疫特性的改进Varela免疫网络模型,构造了一类与被控对象无关的免疫控制器模型.以大惯性大滞后模型为被控对象,采用仿真的方法研究了该免疫控制器的特性.仿真研究与分析表明:该免疫控制器具有一定的记忆和自学习能力,具有较好的抗纯滞后及参数自适应性能.文中将这种免疫控制器的参数变化对控制系统的影响也作了仿真研究
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测量的基本知识(包括误差、信号描述、测量装置的基本特性) 传感器技术(包括常用传感器原理) 信号处理技术(包括模拟和数字信号处理方法) 常用参量的测试(包括应力应变、力、振动、温度和流量) 综合试验(包括机械量的动态测量和控制) 第一讲 测试技术绪论 第三章 测试系统的基本特性 第四章 测试系统特性 第二章 测量技术 2.1、测量的基本知识 2.2、静动态试验数据的描述 2.3、测量系统的基本特性 第四章 传感器技术 第四章 常见参量的测试 4.3.1 温度测量的基本概念 4.3.2 热电偶测温 4.3.3 热电阻测温 4.3.4 非接触式测温
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一、 地球空间模型描述 为了深入研究地理空间,有必要建立地球表面的几何模型。根据大地测量学的研究成果, 地球表面几何模型可以分为四类,分述如下: 第一类是地球的自然表面,它是一个起伏不平,十分不规则的表面,包括海洋底部、高 山高原在内的固体地球表面。固体地球表面的形态,是多种成分的内、外地貌营力在漫长的 地质时代里综合作用的结果,非常复杂,难以用一个简洁的数学表达式描述出来,所以不适 合于数字建模;它在诸如长度、面积、体积等几何测量中都面临着十分复杂的困难
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第1章 VLSI概论 第1部分 硅片逻辑 第2章 MOSFET逻辑设计 第3章 CMOS集成电路的物理结构 第4章 CMOS集成电路的制造 第5章 物理设计的基本要素 第2部分 从逻辑到电子电路 第6章 MOSFET的电气特性 第7章 CMOS逻辑门电子学分析 第8章 高速CMOS逻辑电路设计 第9章 CMOS逻辑电路的高级技术 第3部分 VLSI系统设计 第10章 用Verilog硬件描述语言描述系统 第11章 常用的VLSI系统部件 第12章 CMOS VLSI引运算电路 第13章 存储器与可编程逻辑 第14章 系统级物理设计 第15章 VLSI时钟和系统设计 第16章 VLSI电路的可靠性与测试
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