在各种复杂的数字电路中,不但需要对二值信号 进行算术运算和逻辑运算,还经常需要将这些信号和 运算结果保存起来。为此，需要使用具有记忆功能 的基本单元。能够存储一位二值信号的单元电路， 被称为触发器。用“FF”表示。 为了实现记忆一位二值信号的功能，触发器必 须具备以下两个基本特点

2.5逻辑函数的表达式

一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成

复旦大学：《电子学与信息系统》教学资源（学士士学位论文）数字电路可测性设计方法的探讨

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

1.逻辑函数的卡诺图表示 (1) 卡诺图的构成

 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）

(1)三态输出与非门组成及工作原理