1目的要求 (1)掌握X射线多晶衍射法的实验原理和技术。 (2)学会根据X射线衍射图,使用X射线粉末衍射索引和卡片进行物相分析

一、问题的提出 要求定积分I=∫f(x)dx的值。若能求出被积函数f(x)的一个原函数F(x),则定积分I能根据牛顿-莱布尼茨公式求出,即= f()dx F(b)-F(a)困难:①.F(x)难求(很复杂)或求不出;

1895年伦琴发现X射线后,认为是一种波, 但无法证明。 当时晶体学家对晶体构造(周期性)也没 有得到证明。 1912年劳厄将X射线用于CuS04晶体衍射同时 证明了这两个问题,从此诞生了X射线晶体衍 射学

一、1895年德国物理学家--伦琴”发现X射线 二、1895-1897年伦琴搞清楚了X射线的产生、传播、穿透力等大部分性质 三、1901年伦琴获诺贝尔奖 四、1912年劳埃进行了晶体的X射线衍射实验

前面我们根据区间[ab]上给出的节点做 插值多项式Ln(x)近似表示f(x)。一般总 以为Ln(x)的次数越高,逼近f(x)的精度 越好,但实际并非如此,次数越高,计 算量越大,也不一定收敛。因此高次插 值一般要慎用,实际上较多采用分段低 次插值

1.3 X射线衍射分析 1.3.2 衍射方向 1.4 X射线衍射实验方法 1.4.1.多晶法 1.4.2 物相分析方法 1.4.3 晶体结构的描述

协方差分析是把方差分析与回归分析结合起来的一种统计分析方法。它用于比较一个 变量Y在一个或几个因素不同水平上的差异,但Y在受这些因素影响的同时,还受到另 个变量X的影响,而且X变量的取值难以人为控制,不能作为方差分析中的一个因素处 理。此时如果X与Y之间可以建立回归关系,则可用协方差分析的方法排除X对Y的影 响,然后用方差分析的方法对各因素水平的影响作出统计推断

Ax=b有x=A-1b,但实际上并不显式求A-1 例子: 7x=21 X=21/7=3 如果求逆 x=7-1×21=.142857×21=2.99997 这就需要一次除和一次乘,且精度更低

第四章. 衍射强度和衍射方法 1 衍射的强度 2 单晶X射线衍射方法 3 粉晶X射线衍射方法

扫描电子探针显微技术与射线显微分析 一、定义与历史回顾 二、显微分析的基本原理 三、几个重要的概念 四、仪器与装置(组图) 五、定性X射线显微分析 六、定量X射线显微分析 七、扫描电镜和X射线显微分析的样品制备 八、技术应用前景