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§14-1 拉普拉斯变换 §14-2 动态电路的频域分析 §14-3 线性时不变电路的性质 §14-4 计算机分析电路实例
文档格式:PPTX 文档大小:647.18KB 文档页数:15
§14-1 非正弦周期电流电路 §14-2 周期函数展开为Fourier Series §14-4 有效值、平均值和平均功率 §14-5 非正弦周期电流电路的计算
文档格式:DOC 文档大小:562KB 文档页数:34
第一章 绪言.1 1.1 实验在材料力学课程中的地位.1 1.2 材料力学实验的基本内容.1 1.3 实验须知.1 1.4 实验报告的一般要求.2 第二章 力学性能测试.2 第一节 拉伸试验.2 2.1 .1 概述.2 2.1 .2 试验目的.3 2.1 .3 试验设备.3 2.1 .4 试样.5 2.1 .5 试验原理.5 2.1 .6 试验步骤.6 2.1.7 实验结果的处理.9 2.1.8 金属材料拉伸断口分析.13 2.1.9 思考题.13 第 2 节 材料的条件屈服极限σ0. 2 的测定.14 2.2 .1 概述.14 2.2.2 实验目的.14 2.2.3 试验原理.14 2.2.4 思考题.15 第 3 节 压缩试验.15 2.3.1 概述.15 2.3.2 试验目的.15 2.3.3 试验设备.15 2.3.4 试验原理.16 2.3.5 试验步骤.17 2.3.6 思考题.21 第 4 节 剪切试验.22 2.4.1 概述.22 2.4.2 试验目的.22 2. 4. 3 试验设备及试祥.2 2 2.4.4 试验原理.22 2.4.5 试验步骤.23 2.4.6 思考题.24 第 5 节 扭转试验.24 2.5.1 概述.24 2.5.2 实验目的.25 2.5.3 试验设备.25 2.5.4 试件.25 2.5.5 试验原理.25 2.5.6 试验步骤.27 2.5.7 试验结果分析.28 2.5.8 思考题.29 第三章 电测应力分析.29 第 1 节 电测法的基本原理.29 3.1.1 电阻应变片.29 3.1.2 电阻应变仪.30 3.1.3 温度补偿.31 第 2 节 DH3818 静态电阻应变仪.32 3.2.1 概述.32 3.2.2 工作原理.32 第 3 节 等强度梁静态应变测量.33 3.3.1 实验目的.33 3.3.2 试验设备.33 3.3.3 试验步骤.33 第 4 节 梁弯曲正应力实验.39 3.4.1 概述.39 3.4.2 矩形截面直梁弯曲正应力实验.39 第 5 节 设计性试验(弯扭组合的主应力的测定).41 3.5.1 试验目的.41 3.5.2 试验设备.41 3.5.3 试验原理.42 3.5.4 分析及讨论.43
文档格式:PDF 文档大小:749.59KB 文档页数:70
§14-1 拉普拉斯变换 §14-2 动态电路的频域分析 §14-3 线性时不变电路的性质 §14-4 计算机分析电路实例
文档格式:PPT 文档大小:610.5KB 文档页数:32
14-1轴的功用和类型 14-2轴的材料 14-3轴的结构设计 14-4轴的强度计算
文档格式:PPT 文档大小:276.5KB 文档页数:31
14.1 网络营销概述 14.2 如何开展网络营销 14.3 网络营销的主要方法 14.4 网络营销战略
文档格式:PDF 文档大小:720.24KB 文档页数:4
采用单辊快凝法取代传统的铸锭法制备出了厚度为0.1~0.4mm的NdFeB厚带.通过对制备快凝厚带过程中不同的工艺参数的探索,获得了工艺参数、带片厚度及显微组织间的关系.结果表明:制备0.25~0.35mm厚带的最佳工艺参数为:辊轮转速在10m/s左右,喷射压力0.08~0.10MPa,辊嘴间距(2±0.5)mm.当带片厚度为0.3mm时,带片中以Nd2Fe14B相为主,沿着(410)方向Nd2Fe14B含量比例较大;其显微结构主要是Nd2Fe14B片状晶,富Nd薄层相之间的间距约为5 μm.带片厚度为0.4mm时,厚带试样中α-Fe含量明显大于Nd2Fe14B含量,并且择优取向变成了(008).厚度0.1mm的厚带的显微结构中是细小的急冷等轴晶,厚度0.4mm的厚带中有较大区域的等轴晶
文档格式:PDF 文档大小:510.63KB 文档页数:8
采用标准固相反应法制备了Sr14(Cu1-xZnx)24O41(x=0,0.01,0.02,0.03)系列多晶样品.X射线衍射谱表明所有样品均呈单相,且样品晶格常数大小随Zn掺杂量x的变化存在微弱波动.X射线光电子能谱表明Sr14Cu24O41中Cu离子以+2价形式存在,Zn掺杂对体系中Cu离子化合价不造成影响.磁化率测量结果表明在10-300 K温度范围内Zn掺杂使体系磁化率降低,拟合结果表明随着Zn掺杂量x的增大,居里-外斯项对体系磁化率贡献逐渐减弱,二聚体耦合能JD逐渐降低,每个分子中CuO2自旋链内二聚体个数ND与自由Cu2+离子自旋数NF均逐渐减少,进一步分析显示替换二聚体内Cu2+离子的Zn2+离子数少于替换自由Cu2+离子的Zn2+离子数.电阻率测量结果表明Sr14Cu24O41体系具有半导体特性,并且Zn掺杂会使体系电阻率降低,降低程度随掺杂量x增大而增大,但并未使体系发生金属-绝缘体转变.认为电阻率降低可能是由于Zn2+离子掺杂使体系内CuO2自旋链中二聚体发生退耦,破坏了电荷有序超结构,从而使更多的空穴释放出来并转移到导电性好的Cu2O3自旋梯子中所致
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§ 14-1 惯性力·质点的达朗贝尔原理 § 14-2 质点系的达朗贝尔原理 § 14-3 刚体惯性力系的简化 § 14-4 绕定轴转动刚体的轴承动约束力
文档格式:PPT 文档大小:766KB 文档页数:16
§14-1地下建筑工程测量概述 §14-2 地面控制测量 一、平面控制测量 (一)直线定线法 二、导线测量法 三、三角网法 四、全球定位系统法 二、高程控制测量 §14-3隧道施工测量 §14-4 竖井联系测量
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