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一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
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 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障
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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
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安徽科技学院:《模拟电子技术》课程教学资源(课程设计)Analog electronic technique
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电子科技大学:《高等数字集成电路设计 Advanced Digital Integrated Circuits Design》课程教学资源(教学大纲,负责人:贺雅娟)
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苏州大学:电子信息学院《嵌入式系统设计》课程教学大纲
文档格式:DOC 文档大小:109KB 文档页数:9
苏州大学:电子信息学院《嵌入式系统设计》课程教学大纲
文档格式:PDF 文档大小:9.45MB 文档页数:38
西安电子科技大学:《数字电路与逻辑设计》课程教学资源(实验课件)EDA实验
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