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一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
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复旦大学:《数据结构与算法设计》实验设计_Lab 6. Greedy Algorithms
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 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障
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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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 理解BIST(Built-in Self-Test)的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
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复旦大学:《数据结构与算法设计》实验设计_Lab 8. String Matching
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复旦大学:《数据结构与算法设计》综合项目_Project2. English-Chinese dictionary based on binary search tree
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1.1 Definition of algorithm 1.2 Insertion sort and merge sort 1.3 Running time and asymptotic analysis 1.4 Θ-notation, Ω-notation, and O-notation 1.5 Recurrences 1.6 Substitution, recursion-tree method, and master method
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
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