2.1 逻辑代数的基本概念 2.2 逻辑代数的基本定理和规则 2.3 逻辑函数表达式的形式与变换 2.4 逻辑函数的简化

10.1 基本逻辑关系 10.2 基本集成逻辑门电路 10.3 特殊门电路 10.4 集成门电路使用注意事项 10.5 集成门电路功能实验

5.1 反馈放大器的基本概念 5.2 负反馈对放大器性能的影响 5.3 负反馈放大器的性能分析及深度负反馈

1.1 数制（计数体制） 1.1.1概述(介绍几个基本概念) 数码（计数制中的基本数字符号） 基数（底数）

① 动机 ② 针床测试仪 ③ 边界扫描测试基本原理 ④ 基本扫描单元 ⑤ 测试访问端口 (TAP) 控制器 ⑥ 边界扫描指令 ⑦ BSDL语言

2.2 半导体二极管和三极管的开关特性 2.2.1 半导体基本知识 2.2.2 PN结的形成及特性 2.2.3 半导体二极管 2.2.4 特殊二极管 2.2.5 半导体三极管——双极型三极管 2.2.6 MOS场效应管 本征半导体与本征激发 MOS管的基本开关电路

第一节 概述 第二节 逻辑代数中的常用运算 第三节 逻辑代数的基本公式和基本运算定律

实验一基本门电路逻辑功能测试 实验二加法器的设计与应用 实验三译码器和数据选择器的设计及应用 实验四优先编码器的设计(EWB) 实验五触发器的设计及应用 实验六计数器的设计 实验七555定时器

1.4 逻辑代数的基本定理 1.5 逻辑函数及其表示方法 1.6（1.7） 逻辑函数的卡诺图化简法 1.7（1.8） 具有无关项逻辑函数及其化简

10.1 PLD概述 10.2 PLD的基本结构 10.3 PLD的表示方法 10.4 PLD的分类 10.5 可编程逻辑阵列 PLA 10.6 可编程阵列逻辑 PAL 10.7 通用阵列逻辑 GAL