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2.1 逻辑代数的基本概念 2.2 逻辑代数的基本定理和规则 2.3 逻辑函数表达式的形式与变换 2.4 逻辑函数的简化
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10.1 基本逻辑关系 10.2 基本集成逻辑门电路 10.3 特殊门电路 10.4 集成门电路使用注意事项 10.5 集成门电路功能实验
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5.1 反馈放大器的基本概念 5.2 负反馈对放大器性能的影响 5.3 负反馈放大器的性能分析及深度负反馈
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1.1 数制(计数体制) 1.1.1概述(介绍几个基本概念) 数码(计数制中的基本数字符号) 基数(底数)
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① 动机 ② 针床测试仪 ③ 边界扫描测试基本原理 ④ 基本扫描单元 ⑤ 测试访问端口 (TAP) 控制器 ⑥ 边界扫描指令 ⑦ BSDL语言
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2.2 半导体二极管和三极管的开关特性 2.2.1 半导体基本知识 2.2.2 PN结的形成及特性 2.2.3 半导体二极管 2.2.4 特殊二极管 2.2.5 半导体三极管——双极型三极管 2.2.6 MOS场效应管 本征半导体与本征激发 MOS管的基本开关电路
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第一节 概述 第二节 逻辑代数中的常用运算 第三节 逻辑代数的基本公式和基本运算定律
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实验一基本门电路逻辑功能测试 实验二加法器的设计与应用 实验三译码器和数据选择器的设计及应用 实验四优先编码器的设计(EWB) 实验五触发器的设计及应用 实验六计数器的设计 实验七555定时器
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1.4 逻辑代数的基本定理 1.5 逻辑函数及其表示方法 1.6(1.7) 逻辑函数的卡诺图化简法 1.7(1.8) 具有无关项逻辑函数及其化简
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10.1 PLD概述 10.2 PLD的基本结构 10.3 PLD的表示方法 10.4 PLD的分类 10.5 可编程逻辑阵列 PLA 10.6 可编程阵列逻辑 PAL 10.7 通用阵列逻辑 GAL
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