2.3.1 CMOS IC中的寄生效应 2.3.2 SOI工艺 2.3.3 CMOS版图设计规则

 SoC设计的基本概念  IEEE P1500协议  SoC的DFT策略的探讨

2.1 设计、验证和测试 2.2 缺陷、失效和故障 2.3 故障及故障检测 2.5 故障的等效/支配/冗余

 2.1.2 MOS结构和分类  2.2.1 N阱CMOS工艺  2.2.2 深亚微米CMOS工艺

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）