复旦大学：《电子学与信息系统》教学资源（学士士学位论文）数字电路可测性设计方法的探讨

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

1.逻辑函数的卡诺图表示 (1) 卡诺图的构成

 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）

(1)三态输出与非门组成及工作原理

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——测试的基本知识

电子科技大学：《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源（课件讲稿）第1章 概述——研究意义（王忆文）

2.1 (1) (2) (3) 2.4 (1) (2) (3) 2.10 (1) (2) 2.14 2.13 (1) 2.12 (1) (3) (4) 2.11 (1) (2)