6.1 概述(Brief introduction) 6.2 吸光光度法 6.3 比色法和吸光光度法和及其仪器 6.4 光度分析法设计 6.5 光度分析法的误差

1. 了解分析化学的任务 2. 了解分析方法分类 3. 了解分析化学发展简史

5.1 概述(Brief introduction) 5.2 沉淀溶解度及其影响因素 5.3 沉淀的类型和形成 5.4 影响沉淀纯净的因素(自学) 5.5 沉淀条件的选择 5.6 有机沉淀剂（自学） 5.7 重量分析结果的计算 5.8 沉淀滴定法

7.1 有关误差的一些基本概念 7.2 随机误差的分布 7.3 有限数据的统计处理 7.4 测定方法的选择与测定准确度的提高 7.5 有效数字

• 什么是分形？ • 图形迭代 • 函数迭代 • IFS迭代 • 分形的应用

两种方法分析: 一、基数效用论——边际效用分析法 二、序数效用论——无差异曲线分析法

本章在分析弯曲变形过程及弯曲件质量影响因素的基 础上，介绍弯曲工艺计算、工艺方案制定和弯曲模设计。 涉及弯曲变形过程分析、弯曲半径及最小弯曲半径影响因 素、弯曲卸载后的回弹及影响因素、减少回弹的措施、坯 料尺寸计算、工艺性分析与工艺方案确定、弯曲模典型结 构、弯曲模工作零件设计等

在实际应用中,有些随机现象需要同时用两个或两个以上的随机变量来描述例如,研 究某地区学龄前儿童的发育情况时,就要同时抽查儿童的身高H、体重W,这里,H和W 是定义在同一个样本空间S={e}={某地区的全部学龄前儿童}上的两个随机变量.又如,考 察某次射击中弹着点的位置时,就要同时考察弹着点的横坐标X和纵坐标Y.在这种情况 下,我们不但要研究多个随机变量各自的统计规律,而且还要研究它们之间的统计相依关 系,因而还需考察它们的联合取值的统计规律,即多为随机变量的分布

一、光纤的结构 二、光纤的分类 三、光缆的结构 四、光缆的分类

7.1一般介绍 7.2一阶双曲型方程的差分求解法 7.3一阶双曲型方程的特征线求解法 7.4一阶双曲型方程的线上求解法 7.5二阶椭圆型方程的差分求解法 7.6二阶椭圆型方程的有限元求解法 7.7二阶椭圆型方程的加权残差求解法 7.8二阶抛物型方程的差分求解法 7.9二阶抛物型方程的线上求解法 7.10二阶双曲型方程的特征线求解法