一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成

(1)三态输出与非门组成及工作原理

 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障

① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

东北大学：某学院应用通信工程专业《电路分析与设计》课程教学大纲

单片机系列《proteus》指导书（6.7）第二章 电路原理图设计

1.1 将下列各式写成按权展开式： （352.6）10=3×102+5×101+2×100+6×10-1 （101.101）2=1×2

吉林师范大学：物理教学实验课件（PPT讲稿）时序逻辑电路测试与设计-R

1.1 (1) (2) (3) (4) 1.3 (1) (2) 1.4 (1) (2) (3) 1.8 (1) (2) (3) 1.7 (1) (2) (3) 1.6 (1) (2) (3)