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一、IEEE P1500嵌入式核可测性标准 二、SoC测试生成
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 IDDQ的定义  IDDQ测试原理  IDDQ可检测的故障
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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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 理解BIST(Built-in Self-Test)的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
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西安石油大学:《电子技术基础(数字)Fundamentals of Electronic Technique(Digital Logic Circuits)》课程教学资源(电子教案,打印版)组合逻辑电路的分析和设计
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西安石油大学经济管理学院:《组织行为学 Organizational Behavior》课程教学资源(复习题)第九章 组织理论与设计
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
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• Synthesizable • Some experiences ➢ Balance architecture ➢ Share resources ➢ Gated signal ➢Assignment statement ➢ Accident / Intentional Latch • Other syntax rules
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