TMS320C54x芯片是一种特殊结构的微处理器， 为了快速地实现数字信号处理运算，采用了流水线指 令执行结构和相应的并行处理结构，可在一个周期内 对数据进行高速的算术运算和逻辑运算。 本章主要介绍TMS320C54x芯片的硬件结构，重 点对芯片的引脚功能、CPU结构、内部存储器、片 内外设电路、系统控制以及内外部总线进行了讨论

EC 2006 Prentice Hall 2 Learning Objectives 1. Define electronic commerce (EC) and describe its various categories. 2. Describe and discuss the content and framework of EC. 3. Describe the major types of EC transactions. 4. Describe the digital revolution as a driver of EC

10.1 引言 10.2 关于实验用计算机语言 10.3 实验一： 信号、 系统及系统响应 10.4 实验二： 用FFT作谱分析 10.5 实验三： 用双线性变换法设计IIR数字滤波器 10.6 实验四： 用窗函数法设计FIR数字滤波器

8.1 几种特殊的滤波器 8.2 格型滤波器 8.3 简单整系数数字滤波器 8.4 采样率转换滤波器

6.1 数字滤波器的基本概念 6.2 模拟滤波器的设计 6.3 用脉冲响应不变法设计IIR数字低通滤波器 6.4 用双线性变换法设计IIR数字低通滤波器 6.5 数字高通、带通和带阻滤波器的设计 6.6 IIR 数字滤波器的直接设计法

4.1 引言 4.2 基2FFT算法 4.3 进一步减少运算量的措施 4.4 分裂基FFT算法 4.5 离散哈特莱变换(DHT)

2.1 引言 2.2 序列的傅里叶变换的定义及性质 2.3 周期序列的离散傅里叶级数及傅里叶变换表示式 2.4 时域离散信号的傅里叶变换与模拟信号傅里叶变换之间的关系 2.5 序列的Z变换 2.6 利用Z变换分析信号和系统的频域特性

⒈ 定义 第10章 数模转换和模数转 换电路 ⑴ 数模转换 将数字信号转换为相应的模拟信号称为数模转换或D/A转换或DAC（Digital to Analog Conversion）

85.1 Digital IC Testing Taxonomy of Testing • Fault Models • Test Pattern Generation • Output Response Analysis 85.2 Design for Test The Testability Problem • Design for Testability • Future for Design

Fundamentals of Undersampling Increasing ADC SFDR and ENOB using External SHAs Use of Dither Signals to Increase ADC Dynamic Range Effect of ADC Linearity and Resolution on SFDR and Noise in Digital Spectral Analysis Applications Future Trends in Undersampling ADCs