采用静电辅助的气溶胶化学气相沉积的方法成功地在Si(100)衬底上制备了Y2O3薄膜,利用X射线衍射(XRD)、场发射扫描电镜(FE-SEM)、原子力显微镜(AFM)和X射线光电子能谱(XRP)对薄膜进行了表征.SEM分析结果显示,薄膜的颗粒为纳米级的,并且薄膜致密、平整.AFM分析结果表明,薄膜的粗糙度为11nm.由XPS分析可知,薄膜为基本上符合化学计量比的氧化物.附着力测试表明,Y2O3薄膜与Si衬底的附着力为4.2N.X射线衍射分析结果表明,沉积得到的Y2O3薄膜在热处理前为非晶结构,热处理之后薄膜具有立方晶体结构,并且沿(111)面择优生长

利用原位拉伸扫描电镜观察,研究ZK60合金及含稀土Y的ZK60(0.9Y)合金热轧板材动态拉伸过程中裂纹萌生和扩展情况,讨论合金的显微组织与断裂行为的相互关系.实验表明:在拉伸过程中,合金轧制态试样裂纹以撕裂的形式进行扩展,断口区域有解理、准解理断裂痕迹,ZK60(0.9Y)合金裂纹萌生所需载荷大于ZK60合金,且在拉伸过程中发生第2相的破碎,主裂纹沿第2相扩展,基体中的二次裂纹多萌生于第2相周围

一、选择题 1 如图所示为… () x (A)d的y的角度分布图(B)d22的y的角度分布图 (C)d的y2的角度分布图(D)d22的y2的角度分布图

协方差分析是把方差分析与回归分析结合起来的一种统计分析方法。它用于比较一个 变量Y在一个或几个因素不同水平上的差异,但Y在受这些因素影响的同时,还受到另 个变量X的影响,而且X变量的取值难以人为控制,不能作为方差分析中的一个因素处 理。此时如果X与Y之间可以建立回归关系,则可用协方差分析的方法排除X对Y的影 响,然后用方差分析的方法对各因素水平的影响作出统计推断

12.6可降阶的高阶微分方程 一、yn=f(x)型的微分方程 二、y\f(x,y)型的微分方程 三、y=fv,y)型的微分方程

5.1 Markowitz模型 由于R是随机变量,故Y也是随机变量设Y的分布为F(y),概率密度函数为f(y)则有价证券的 Markowitz模型为:

一.平面点集 1.设{P=(xn,y)是平面点列,B=(x2y)是平面上的点证明imP=P的充要条件是 lim x=x0,且 lim y=y

一、一致收敛的定义 定义1设函数f(x,y)定义在[a,+∞,c,d],称I(y)=f(x,y)dx含参变量的无穷积分 定义2设函数f(x,y)定义在[a,+c,d]上,若>0,3A=A()>a,当A,A>A时对一切

如果一块图形是由连续曲线y=f(x),y=f2(x)以及=a,x=b(a