第一节 离子键 第二节 离子晶体 第三节 离子晶体的晶格能 第四节 离子极化

第一章 无机化学实验基本知识 第一节 化学实验的目和要求 第二节 无机化学实验内容和基本研究方法 第二章 无机化学实验基本操作 第一节 常用仪器的洗涤及干燥 第二节 加热与冷却 第三节 试剂的取用 第四节 称量 第五节 溶液的配制 第六节 气体的产生、净化、干燥与收集 第七节 试纸的应用 第八节 试管反应与离子的检出 第九节 水的纯化与水质鉴定 第十节 无机合成基本操作 第十一节 离子交换技术 第三章 实验内容 第一节 基本操作训练 实验一 基本操作训练 实验二 酸碱滴定 第二节 参数及常数测定 实验一 气体常数 R 的测定 实验二 化学反应热效应的测定 实验三 弱酸电离常数 Ka 的测定 （一） pH 电位法 （二） 半中和法 （三） 电导法 实验四 二氧化碳分子量的测定 实验五 难溶强电解质溶度积常数 Ksp 的测定 （一） 离子交换法测定硫酸钙的溶度积常数 （二）离子电极法测定氯化银的溶度积常数 实验六 利用微型化学实验测定银氨配离子的稳定常数 实验七 分光光度法测定磺基水杨酸铁配合物的组成及稳定常数 第三节 性质实验及定性分析实验 实验一 弱电解质的电离平衡 实验二 电解质溶液的多相平衡 实验三 氧化还原反应 实验四 配合物的形成及性质 实验五 主族元素重要化合物的性质 实验六 副族元素重要化合物的性质 实验七 常见无机离子的鉴别 实验八 阳离子混合液的分离及检出 实验九 阴离子混合液的分离及检出 实验十 阳离子 Co2+、Ni2+、Fe3+的纸上色层分离 第四节 无机化合物的合成、分离及提纯 实验一 硝酸钾制备及其溶解度曲线的绘制 实验二 药用氯化钠制备 实验三 硫酸铬钾的制备 实验四 高锰酸钾的制备 实验五 三草酸合铁（Ⅲ）酸钾的制备及其光化学性质的研究 实验六 抗菌药磺胺嘧啶银的合成及性质测定 实验七 营养药葡萄糖酸钙的制备及性质测定 第五节 综合性试验 第六节 设计性试验

第一节 配位滴定基本理论 第二节 配合物的稳定常数 第三节 外界条件对EDTA与金属离子配合物的稳定性的影响 第四节 金属离子指示剂 金属离子指示剂及特点 指示剂配位原理 指示剂应具备的条件 常用金属离子指示剂 第五节 配位滴定的基本原理 配位滴定曲线 化学计量点时金属离子浓度的计算 配位滴定曲线与酸碱滴定曲线比较 影响配位滴定突跃大小的两个因素 指示剂变色点金属离子浓度的计算 第六节 滴定条件的选择

一、离子色谱基本原理 离子色谱中发生的基本过程就是 离子交换,因此,离子色谱本质 上就是离子交换色谱

烯类和一些环状结构的单体能在离子型引发剂的存在下，进行离子型链式聚合反应。根据增长链末端活性中心的种类不同，可分成三类： 1、 正离子型 2、 负离子型 3、 配位离子型聚合

采用光化学沉积法在玻璃上制备了锐钛矿型TiO2和金属铁、铬离子掺杂TiO2薄膜,并采用XRD,SEM,XPS表征了所合成的薄膜.结果表明,掺杂铁离子的TiO2薄膜表面呈现出颗粒状纹路,掺杂铬离子的TiO2薄膜表面呈现网格状纹路.TiO2薄膜的亲水性能随着金属离子的加入而增加.铁离子的加入对TiO2薄膜催化降解甲基橙的能力有所促进,而铬离子的加入对TiO2薄膜催化降解甲基橙的能力没有显著提高

1范围 本法适用于较清洁的水样中硝酸根的测定,最低检出浓度为0.15mg/L;测定上限为 50mg/L硝酸盐氮 氯离子含量高于20倍,重碳酸根离子含量高于5倍,会产生干扰。另外,溴离子、碘离 子、硫离子、氰离子、亚硝酸根离子、高氯酸根离子和有机酸含量高时,也会对测定产生干 扰

第三章有机反应活性中间体 (Reactive intermediates) 一.正碳离子(Carbocations) (一).正碳离子的结构 (二).正碳离子的稳定性 取代基效应的影响 溶剂效应的影响 (三).正碳离子的生成 1.直接离子化 2.正离子对不饱和分子的加成 3.由其它正离子转化

在同时考虑络合剂离解平衡、金属离子水解平衡及络合平衡间的相互影响的情况下,分析了各离子分布系数理论计算的数学方程式,利用计算机对金属离子加络剂体系中各离子分布系数的计算进行解析,给出了最简便优化的运算方法及程序框图,详细讨论了多元酸络合剂体系中单络合剂及双络合剂的情况,并进一步将结果推广到更普遍的情况,对化学镀镍中常用络合剂体系的离子分布系数进行了计算

离子选择性电极的性能参数 Nernst响应、线性范围、检测下限 以离子选择电极的电位对响应离子活度的负对 数作图(见图),所得曲线称为校正曲线。若这种 响应变化服从于 Nernst方程,则称它为 Nernst响应。此校准曲线的直线部分所对应的离子活度范围称为离子选择电极响应的线性范围。该直线的斜率称为级差。当活度较低时,曲线就逐渐弯曲,CD和FG延长线的交点A所对应的活度a;称为检测下限