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《数字电路与逻辑设计》课程各章习题（含解答）第五章集成触发器

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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法

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《数字电路与逻辑设计》课程各章习题（含解答）第三章集成逻辑门

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《数字电路与逻辑设计》课程各章习题（含解答）第二章逻辑函数及其简化

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《数字电路与逻辑设计》课程各章习题（含解答）第一章绪论

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 理解BIST（Built-in Self-Test）的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构

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《数字电路与逻辑设计》课程PPT教学课件（数字逻辑）第一章基本知识

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广东财经大学：信息学院《数字逻辑电路与系统设计》课程教学大纲

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随着半导体技术的发展在一个半导体芯片上集成的电子元件数目越来越多,并按集成的电子元件数目的多少划分为: SSI:10门以下/片,每片含100个元件以下

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 掌握组合电路的测试生成  代数法 异或法 布尔差分法  算法D算法 PODEM算法 FAN算法 其他  时序电路的测试生成  可测性方法（不具体要求）