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① 概述 ② 存储器模型 ③ 失效机制和故障模型 ④ 存储器的测试算法
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 理解BIST(Built-in Self-Test)的原理  掌握LFSR的原理  掌握BIST的结构
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——测试的基本知识
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 SoC设计的基本概念  IEEE P1500协议  SoC的DFT策略的探讨
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电子科技大学:《集成电路可测性设计 VLSIDesign》课程教学资源(课件讲稿)第1章 概述——研究意义(王忆文)
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中国地质大学(武汉):《数字逻辑实验》课程教学资源(实验内容)实验十一 四路优先判决电路(设计性)
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复旦大学:《设计性研究性物理实验》学生论文_集成温度传感器AD590的电路原理及其在测温和温控中的应用
文档格式:PDF 文档大小:450.29KB 文档页数:39
复旦大学:《电子学与信息系统》教学资源(学士士学位论文)数字电路可测性设计方法的探讨
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主要内容 (1)通过简单介绍支路电流法,阐述电路分析的基本步骤及建立独立方程的原理和方法; (2)通过介绍变量的独立性与完备性,引入并重点讲授网孔法,结点法,回路法; (3)介绍一般分析方法中各种电源处理的基本原则
文档格式:PDF 文档大小:535.52KB 文档页数:6
人工智能基础:单电子电路的鲁棒性研究
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