⑩ 物理实验中心 数字式磁滞徊线测定 实验
数字式磁滞徊线测定 实验
实验目的 实验仪器 实验原理 实验内容
实验目的 实验仪器 实验原理 实验内容
实验目的 学习和掌握材料剩磁的消磁方法、用霍尔传感器测量铁磁 材料直流磁特性、磁化曲线和磁滞回线 实验仪器 SXG2000数字式毫特仪，S600恒流电源，实心铁芯样品
实验目的 学习和掌握材料剩磁的消磁方法、用霍尔传感器测量铁磁 材料直流磁特性、磁化曲线和磁滞回线 实验仪器 SXG—2000数字式毫特仪，IS600恒流电源，实心铁芯样品
实验原理 1.铁磁物质的磁饱和现象和磁滞现象 铁磁物质的磁化过程很复杂，主要 表现为它具有磁饱和性和磁滞性。 B. R 这两个特性可以通过磁化场的磁 H 场强度H和磁感应强度B之间的关 H 系即B-H曲线来说明。Hn和Bn分 别为饱和时的磁场强度和磁感应 强度，曲线OA称为铁磁物质的初始 磁化曲线。自A点出发又回到A点 图1磁滞回线 的轨迹为一闭合曲线，称为铁磁 物质的磁滞回线
实验原理 1. 铁磁物质的磁饱和现象和磁滞现象 铁磁物质的磁化过程很复杂，主要 表现为它具有磁饱和性和磁滞性。 这两个特性可以通过磁化场的磁 场强度H和磁感应强度B之间的关 系即B-H曲线来说明。Hm和Bm分 别为饱和时的磁场强度和磁感应 强度,曲线OA称为铁磁物质的初始 磁化曲线。自A点出发又回到A点 的轨迹为一闭合曲线，称为铁磁 物质的磁滞回线。 B Bm A Br R He He H -Hm O Hm R Br A 图 1 磁滞回线
2.初始磁化曲线和磁滞回线的测量 根据安培环路定理，在环形样品的磁化线圈中通以电流， 则磁化场磁场强度H为 H= I=nl 其中I为磁路的平均长度，.N为磁化线圈的匝数，=NL 为单位磁路长度上线圈的匝数。H的单位为A/m。 由磁化线圈通过的电流和单位磁路长度上线圈的匝数 可计算磁场强度H,用特斯拉计测量气隙中均匀磁场区 的磁感应强度可得B。逐点测出H、B的值即可绘出B-H 曲线
2. 初始磁化曲线和磁滞回线的测量 根据安培环路定理，在环形样品的磁化线圈中通以电流I， 则磁化场磁场强度H为 I nI l N H = = 其中l为磁路的平均长度，N为磁化线圈的匝数，n=N/L 为单位磁路长度上线圈的匝数。H的单位为A/m。 由磁化线圈通过的电流I和单位磁路长度上线圈的匝数n 可计算磁场强度H，用特斯拉计测量气隙中均匀磁场区 的磁感应强度可得B。逐点测出H、B的值即可绘出B-H 曲线
为了得到如图1所示对称而稳定的磁滞回线，必须在 ±Hm之间对样品进行反复的磁化，即“磁锻炼”。 测量初始磁化曲线必须由原始状态H =0,B=0开始，因此测量前必须对 待测样品进行退磁，以消除剩磁。 退磁的方法如图2所示，须在±Hm之 间对样品进行反复磁化的过程中让 Hm逐步减少，使样品沿着面积一 条比一条小的磁滞回线回到原点。 图2退磁
为了得到如图1所示对称而稳定的磁滞回线，必须在 Hm之间对样品进行反复的磁化，即“磁锻炼”。 B H 图 2 退磁 测量初始磁化曲线必须由原始状态H ＝0，B＝0开始，因此测量前必须对 待测样品进行退磁，以消除剩磁。 退磁的方法如图2所示，须在Hm之 间对样品进行反复磁化的过程中让 |Hm|逐步减少，使样品沿着面积一 条比一条小的磁滞回线回到原点
实验内容 1.了解实验仪器 HM一1鉴尔法藏化由线与磁带回线实验仪 上海大学技力电子藏叠 交流撞的 8.B.B.8.且mA g.B.8.8.B.m 0 古8 省出恒洗满甘 一室尔电压给出 1S600恒流电源 SXG-2000毫特斯拉仪 类向开关 崖尔探头 图3实验装置图
实验内容 1. 了解实验仪器 图 3 实验装置图 x B B
趾」重尔注磁化由线与磁带目线实验父 式代于厂烧 图111111111H1111 富尔法钻化会线与滋潘县奖实验仅 上海大半枝力电子设备 80000 0008- 家电出
1.实验内容和实验数据 ()测定气隙中磁场的分布 将数字式毫特计的霍尔探头平行（使霍尔片与B的方向垂直） 地插入气隙，置于中央，注意勿与样品接触。线圈通以一定 的直流电流！（记下毫安表读数），用数字式毫特计沿x方向 (见图3)等间隔测量磁场分布，数据记录于表
1.实验内容和实验数据 (1) 测定气隙中磁场的分布 将数字式毫特计的霍尔探头平行（使霍尔片与B的方向垂直） 地插入气隙，置于中央，注意勿与样品接触。线圈通以一定 的直流电流I（记下毫安表读数），用数字式毫特计沿x方向 （见图3）等间隔测量磁场分布，数据记录于表
(2)样品退磁、毫特计调零 在正式测量磁化曲线之前务必对样品进行退磁处理。本实验采用直流退 磁法。 A.若毫特计读数为“十”，向下闭合换向开关，调大I使毫特计读数变 “一”，再把电流调小到=0A。 B.若毫特计读数为“一”，向上闭合换向开关，调大1使毫特计读数变 “+”,再把电流调小到1=0mA。 C.重复上述A或B操作，可使毫特计读数“反向”所需的电流I的绝对值逐渐 减少。直到=0时，换向开关无论怎样启闭，毫特计读数都为0。 D.把霍尔探头调到气隙的外面，调节毫特计调零电位器使毫特计读数为0。 E.再把霍尔探头调到铁芯气隙的中间位置，重复上述A或B操作，直到=O时， 换向开关无论怎样启闭，毫特计读数都为0。 F重复上述D、E操作，直到霍尔探头的读数在气隙外面为0；在气隙中间启 闭换向开关时也为0
(2) 样品退磁、毫特计调零 在正式测量磁化曲线之前务必对样品进行退磁处理。本实验采用直流退 磁法。 A. 若毫特计读数为“＋”，向下闭合换向开关，调大I 使毫特计读数变 “－”，再把电流调小到I=0mA。 B. 若毫特计读数为“－”，向上闭合换向开关，调大I 使毫特计读数变 “＋”，再把电流调小到I=0mA。 C. 重复上述A或B操作，可使毫特计读数“反向”所需的电流I 的绝对值逐渐 减少。直到I=0时，换向开关无论怎样启闭，毫特计读数都为0。 D. 把霍尔探头调到气隙的外面，调节毫特计调零电位器使毫特计读数为0。 E. 再把霍尔探头调到铁芯气隙的中间位置，重复上述A或B操作，直到I=0时， 换向开关无论怎样启闭，毫特计读数都为0。 F. 重复上述D、E操作，直到霍尔探头的读数在气隙外面为0；在气隙中间启 闭换向开关时也为0