第六章透明矿物的系统鉴定
第六章 透明矿物的系统鉴定
透明矿物的晶体光学分类 1、高级晶族:均质体。 2、中级晶族、低级晶族:非均质体。 非均质体可进一步分为: 一轴晶:(+)、(-) 二轴晶:(+)、(-)
一、透明矿物的晶体光学分类 1、高级晶族：均质体。 2、中级晶族、低级晶族： 非均质体。 非均质体可进一步分为： 一轴晶: (+)、(-) 二轴晶: (+)、(-)
二、透明矿物糸统鉴定的内容 (一)单偏光镜下(N): 1、晶形:需要综合各种切面进行归纳; 2、解理:不同方向的切面具有不同的解 理形态,需要进行综合归纳。 1)无解理; 2)有解理 完善程度:极完善、完善、不完善。 解理组数:一组、二组及夹角
二、透明矿物系统鉴定的内容 (一) 单偏光镜下(-N)： 1、晶形：需要综合各种切面进行归纳； 2、解理：不同方向的切面具有不同的解 理形态，需要进行综合归纳。 1) 无解理； 2) 有解理： 完善程度：极完善、完善、不完善。 解理组数：一组、二组及夹角
3、突起及闪突起:主要根据矿物颗粒的边缘、 糙面及贝克线移动方向来判断。 正突起:正极高、正高、正中、正低; 负突起:负高、负低; 4、颜色及多色性: 无色矿物:无多色性; 有色矿物:有多色性,无多色性
3、突起及闪突起：主要根据矿物颗粒的边缘、 糙面及贝克线移动方向来判断。 正突起：正极高、正高、正中、正低； 负突起：负高、负低； 4、颜色及多色性： 无色矿物：无多色性； 有色矿物：有多色性，无多色性
(二)正交偏光镜下(+N): 干涉色级序、双晶类型、延性符号、双折 射率大小、消光类型及消光角。 (三)锥光镜下CL) 切面方向、轴性、光性及2V大小
(二) 正交偏光镜下(+N)： 干涉色级序、双晶类型、延性符号、双折 射率大小、消光类型及消光角。 (三) 锥光镜下(C.L.)： 切面方向、轴性、光性及2V大小
、切面类型及定向切面的选择 ★需要在定向切面上进行测定的内容: 1、多色性公式、吸收性公式、双折射率及 消光角,需要在平行光轴或光面的切面上测 定。 2、光性正负需要在除平行光轴或光轴面 的切面外的各种切面上进行。 3、2V大小需要在垂直光轴的切面上测定
三、切面类型及定向切面的选择 ★需要在定向切面上进行测定的内容： 1、多色性公式、吸收性公式、双折射率及 消光角，需要在平行光轴或光轴面的切面上测 定。 2、光性正负需要在除平行光轴或光轴面 的切面外的各种切面上进行。 3、2V大小需要在垂直光轴的切面上测定
一晶矿物 切面 +N 无多色性 ⊥A 无闪卖起全消光四 旋转360 度,不变 N/A 多色性、四次消光 闪突起千涉色级 最明显序最高 逸出角 12-15度 四次消光口 A
一轴晶矿物
切面-N+NC.L ⊥OA 无多色全消光 无闪突起 多色性干涉色级 ∥/Ap 闪突起序最高 最明显 逸出角 小于10 ⊥Bxa 二晶矿物 (+)(-) ⊥Bxo 10-35度 ⊥A 斜 的交面 (+)(-) 任斜切 意交面
二轴晶矿物
四、糸统鉴定程序 (1)区分均质体 和非均质体 均质体:(2)在单偏光下观察晶 形、解理、突起等级、颜色、 均质体:各个方向 等。 切面金消光,无干 涉图。 非均质体:仅垂直先非均质体:2在单偏无下观察晶形 轴切面全消光,有干 解理、突起等级、闪突起、颜色 涉图。 多色性、测定解狸夹角等
四、系统鉴定程序 (1) 区分均质体 和非均质体 均质体：各个方向 切面全消光，无干 涉图。 非均质体：仅垂直光 轴切面全消光，有干 涉图。 均质体：⑵在单偏光下观察晶 形、解理、突起等级、颜色、 等。 非均质体：⑵在单偏光下观察晶形、 解理、突起等级、闪突起、颜色、 多色性、测定解理夹角等
非均质体: ⑦)在正交偏光镜下观察消光类型、双晶、延性符 号及干涉色级序等。 选择一个垂直光轴的切面,在雏光镜下确定轴 性测定光性符号。如为有色矿物,在草偏光镜下观 察N0或Nm的颜色。 ⑤选择一个平行光或平行光軸面的切面,在正 交偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率和消 光角的大小。如为有色矿物,观察N0、Ne或Ng、Np 等颜色。写出多色性和吸收性公式
非均质体： ⑶ 在正交偏光镜下观察消光类型、双晶、延性符 号及干涉色级序等。 ⑷ 选择一个垂直光轴的切面，在锥光镜下确定轴 性测定光性符号。如为有色矿物，在单偏光镜下观 察No或Nm的颜色。 ⑸ 选择一个平行光轴或平行光轴面的切面，在正 交偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率和消 光角的大小。如为有色矿物，观察No、Ne或Ng、Np 等颜色。写出多色性和吸收性公式
