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中国地质大学(武汉):《数字逻辑实验》课程教学资源(实验内容)实验九 竞争冒险(设计性)

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实验九竞争冒险(设计性) 一、实验目的 通过实验观察组合电路中存在的竞争冒险现象,学会用实验手段消除竞争冒险对电路 的影响。 二、实验内容 1.八位串行奇偶校验电路竞争冒险现象的观察及消除。 图9.1所示电路为八位串行奇偶校验电路, 图9.1八位串行奇、偶校验电路 按图接线。 测试电路的逻辑功能。a.b,g,h分别接逻辑开关K1~K:z接发光二极管显示,改 变K1~K的状态,观察并记录乙的变化。 a接脉冲,bc…h接高电平.用示波器观察并记录a和y满的波形测出信号经七级异 或门的延迟时间, a和h端接同一脉冲,bcg为高电平,观察并记录a和y端的波形,说明y端的波 形有何异常现象? 若采用加电容的办法来消除此异常现象,则电容ε应接在何处? 测出门电路的阚值电压V,若设门的输出电阻R,≈1000,估算电容C值的大小? 用实验法测出消除上述异常现象所需的电容值,说明产生误差的原因有那些? 2组合电路竟争冒险现象的观察及消除 组合电路如图9.2所示。 测试电路功能·结果列成真值表形式。 用实验法测定,在信号变化过程中,竞争冒险在何处.什么时刻可能出现? 用校正项的办法来消除竞争冒险,则电路应怎样修改?画出修改后的电路,并用实验 验证之, 苦改用加滤波电容的办法来消除竞争冒险,则电容C应加在何处?其值约为多大?试 -1-

通过实验验证之。 三、思考题 什么叫组合电路的竟争冒险现象?它是怎 样产生的?通常有哪几种消除的办法?实验中你 T 认为较为简单的方法是哪种?使用时应注意什 么问题? 四、材料 ABD ACD ABC ABD 0 TTL芯片: 图9.2 74LS86四2输入异或门 2片 74LS10三3输入入与非门2片 74LS20四输入双与非门1片 -2-

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