
3.2.5半导体压阻式传感器 (1) 半导体的压阻效应 (2 体型半导体应变片 (3)扩散型压阻式压力传感器 4) 压阻式加速度传感器 (5) 测量桥路及温度补偿 返回 下一页
3.2.5 半导体压阻式传感器 • (1) 半导体的压阻效应 • (2) 体型半导体应变片 • (3) 扩散型压阻式压力传感器 • (4) 压阻式加速度传感器 • (5) 测量桥路及温度补偿 返 回 下一页

半导体应变片的特点: 半导体应变片的突出优点: 灵敏系数高,可测微小应变 机械迟滞小,横向效应小 体积小: 频率响应高。 主要缺点: 一是温度稳定性差; 二是灵敏系数的非线性大,所以在使用时需采用温度补偿和非 线性补偿措施
半导体应变片的特点: 半导体应变片的突出优点: 灵敏系数高,可测微小应变; 机械迟滞小,横向效应小; 体积小; 频率响应高。 主要缺点: 一是温度稳定性差; 二是灵敏系数的非线性大,所以在使用时需采用温度补偿和非 线性补偿措施

(1) 半导体的压阻效应 压阻效应:固体受到作用力后,电阻率就要发生变化, 这种效应称为压阻效应.半导体材料的压阻效应特别强 主要应用:测量压力、加速度和载荷等参数。 因为半导体材料对温度很敏感,因此压阻式传感器的 温度误差较大,必须要有温度补偿。 返回 上一页 下一页
(1) 半导体的压阻效应 压阻效应: 固体受到作用力后,电阻率就要发生变化, 这种效应称为压阻效应. 半导体材料的压阻效应特别强。 主要应用:测量压力、加速度和载荷等参数。 因为半导体材料对温度很敏感,因此压阻式传感器的 温度误差较大,必须要有温度补偿。 返 回 上一页 下一页

压阻效应 △R (1+24)E+ R 金属材料 半导体材料 半导体电阻率 的相对变化 π为半导体材料的压阻系数,它与半导体材料种类及应力方向 与晶轴方向之间的夹角有关; E-为半导体材料的弹性模量,与晶向有关。 △R =(1+24+元,E)8 R 返间 上一页 下一页
压阻效应 金属材料 半导体材料 l l E = l l 半导体电阻率 = 的相对变化 πl-为半导体材料的压阻系数,它与半导体材料种类及应力方向 与晶轴方向之间的夹角有关; E-为半导体材料的弹性模量,与晶向有关。 返 回 上一页 下一页 = + + (1 2 ) R R (1 2 E) R R = + + l

对半导体材料而言,元,E>>(1+μ),故(1+)项可以忽略 △R =九1E8=元,O R 半导体材料的电阻值变化,主要是由电阻率变化引起的, 而电阻率p的变化是由应变引起的。 半导体单晶的应变灵敏系数可表示 △R/R K- 三 π,E 8 半导体的应变灵敏系数还与掺杂浓度有关,它随杂质的增加而减小 返回 上一页 下一页
对半导体材料而言,πl E >>(1+μ),故(1+μ)项可以忽略 l E l R R = = 半导体材料的电阻值变化,主要是由电阻率变化引起的, 而电阻率ρ的变化是由应变引起的。 半导体单晶的应变灵敏系数可表示 E R R K l = = / 半导体的应变灵敏系数还与掺杂浓度有关,它随杂质的增加而减小. 返 回 上一页 下一页

(2) 体型半导体电阻应变片 1)结构形式及特点 2)测量电路 返回上一页下一页
返 回 上一页 下一页 (2) 体型半导体电阻应变片 1) 结构形式及特点 2) 测量电路

1)结构型式及特点 P型硅 基片 带状引线 P-Si N型硅 Si) 主要优点:灵敏系数比金属电阻应变片的灵敏系数大数十倍: 横向效应和机械滞后极小 缺点:温度稳定性和线性度比金属电阻应变片差得多。 返回 上一页 下一页
1) 结构型式及特点 主要优点: 灵敏系数比金属电阻应变片的灵敏系数大数十倍; 横向效应和机械滞后极小. 缺点:温度稳定性和线性度比金属电阻应变片差得多 。 返 回 上一页 下一页 P型硅 N型硅

硅半导体应变片的制备 在制造半 导体应变片时 沿所需的晶轴 方向,在硅锭 上切出小条作 为应变片的电 (010) 阻材料,亦有 (110 111 制成栅状的,P 性硅半导体应 变片的制备如 (111) 图所示。 (100) (001) (a) 晶轴示意图 (b)硅条切片 图3-13P硅半导体应变片的制备 说明:目前使用最多的是单晶硅半导体。 P型硅在晶轴方向的压阻系数最大,在晶轴方向的压阻系数最小。 对N型硅来说,正好相反。对这两种单晶硅半导体在晶轴方向的压阻系 数仅比最大压阻系数稍小些
硅半导体应变片的制备 (110) (100) (010) (001) (a)晶轴示意图 (111) (111) (b)硅条切片 图3–13 P硅半导体应变片的制备 说明:目前使用最多的是单晶硅半导体。 P型硅在晶轴方向的压阻系数最大,在晶轴方向的压阻系数最小。 对N型硅来说,正好相反。对这两种单晶硅半导体在晶轴方向的压阻系 数仅比最大压阻系数稍小些。 在制造半 导体应变片时, 沿所需的晶轴 方向,在硅锭 上切出小条作 为应变片的电 阻材料,亦有 制成栅状的,P 性硅半导体应 变片的制备如 图所示

2)测量电路 。电桥供电电源为恒压源,电桥输出电压为 U。=U△R(R+△R) (1)电桥输出电压与△R/R成正比 (2)同时也说明输出电压受环境温度影响 电桥供电电源恒流源,电桥输出电压为 U。=1·△R 此式中不含温度项 电桥输出电压与△R成正比,环境温度的变化对其没有影响。 返回 上一页 一页
2) 测量电路 ⚫ 电桥供电电源为恒压源,电桥输出电压为 ⚫ 电桥供电电源恒流源,电桥输出电压为 /( ) U0 = UR R + Rt U0 = I R (1)电桥输出电压与ΔR / R成正比 (2)同时也说明输出电压受环境温度影响 电桥输出电压与ΔR成正比,环境温度的变化对其没有影响。 返 回 上一页 下一页 此式中不含温度项

(3)扩散型压阻式压力传感器 与大气连通 扩散4个阻值相等电阻 R R2 R3 R4 001) 2n一 .63 (110) 压阻式压力传感器结构简图 1一低压腔2一高压腔3一硅杯4一引线5一硅膜片 采用N型单晶硅为传感器的弹性元件, 在它上面直接蒸镀半导体电阻应变薄膜 返 上一页 下一页
(3) 扩散型压阻式压力传感器 压阻式压力传感器结构简图 1—低压腔 2—高压腔 3—硅杯 4—引线 5—硅膜片 采用N型单晶硅为传感器的弹性元件, 在它上面直接蒸镀半导体电阻应变薄膜 返 回 上一页 下一页 与大气连通 扩散4个阻值相等电阻 R1 R2 R3 R4