4—1 根轨迹法的基本概念 4—2 根轨迹绘制的基本法则 4—3 广义根轨迹 4—4 系统性能的分析

§6–1 根轨迹的概念 §6–2 绘制根轨迹的规则 §6–3 广义根轨迹 §6–4 系统性能分析

§6–1 根轨迹的概念 §6–2 绘制根轨迹的规则 §6–3 广义根轨迹 §6–4 系统性能分析

1根轨迹和系统设计 到现在为止,我们可以为一个系统画出它的根轨迹,并且通过选 择合适的根轨迹增益以获得特定的闭环极点位置 这里有一个采用此法设计比例控制器的问题: 为何不使用动态补偿呢?这意味着G(s) 动态补偿分为以下不同类型:

1根轨迹的概念 开环系统某一参数从對无穷变化时闭环系统特征方程 式的根在S平面内变化的轨迹称椒迹 root locus)

1根轨迹的概念 开环系统某一参数从對无穷变化时闭环系统特征方程 式的根在S平面内变化的轨迹称椒迹 root locus)

一、本章内容提要: 1介绍了系统开环传递函数的极点、零点已知的条件下确定闭环系统的根轨迹法,并分析系统参量变化时对闭环极点位置的影响; 2.根据闭环特征方程得到相角条件和幅值条件由此推出绘制根轨迹的基本法则;

根轨迹在实轴上的分离点与会合点，分离点或会合点的必要条件:

❑ 离散系统根轨迹 ❑ 离散系统频率特性

一.超前校正。 原系统的根轨迹在系统闭环主导极点Sa右侧,用超前校正 步骤:1.确定Sa的位置