第十四章 一、光谱王扰及抑制 原子吸收分光 spectrum interference and 光度分析法 elimination 二、物理于扰及抑制 atomic absorption physical interference and eliminatio spectrometry,AAS 三、化学王扰及抑制 第三节 chemical interference and 干扰及其抑制 elimination 四、背景王扰及抑制 interferences and elimination background interference and elimination 下一页 231146
23:11:46 第十四章 原子吸收分光 光度分析法 一、光谱干扰及抑制 spectrum interference and elimination 二、物理干扰及抑制 physical interference and elimination 三、化学干扰及抑制 chemical interference and elimination 四、背景干扰及抑制 background interference and elimination 第三节 干扰及其抑制 interferences and elimination atomic absorption spectrometry,AAS
光谱干扰 待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类 干扰主要来自光源和原子化装置，主要有以下几种： 1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。 可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。 2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。 换用纯度较高的单元素灯减小干扰。 3.灯的辐射中有连续背景辐射。 用较小通带或更换灯 23:1146
23:11:46 一、光谱干扰 待测元素的共振线与干扰物质谱线分离不完全，这类 干扰主要来自光源和原子化装置，主要有以下几种： 1.在分析线附近有单色器不能分离的待测元素的邻近线。 可以通过调小狭缝的方法来抑制这种干扰。 2.空心阴极灯内有单色器不能分离的干扰元素的辐射。 换用纯度较高的单元素灯减小干扰。 3.灯的辐射中有连续背景辐射。 用较小通带或更换灯
物理干扰及抑制 试样在转移、蒸发过程中物 理因素变化引起的干扰效应，主 要影响试样喷入火焰的速度、雾 化效率、雾滴大小等。 可通过控制试液与标准溶液 废液 的组成尽量一致的方法来抑制。 23:1146
23:11:46 二、物理干扰及抑制 试样在转移、蒸发过程中物 理因素变化引起的干扰效应，主 要影响试样喷入火焰的速度、雾 化效率、雾滴大小等。 可通过控制试液与标准溶液 的组成尽量一致的方法来抑制
三、化学干扰及抑制 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效 应，主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 1.化学干扰的类型 (1)待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物， 致使参与吸收的基态原子减少。 例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。 (2)待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收， 总吸收强度减弱，电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰 温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素) 23:11:46
23:11:46 三、化学干扰及抑制 指待测元素与其它组分之间的化学作用所引起的干扰效 应,主要影响到待测元素的原子化效率，是主要干扰源。 1. 化学干扰的类型 （1）待测元素与其共存物质作用生成难挥发的化合物， 致使参与吸收的基态原子减少。 例：a、钴、硅、硼、钛、铍在火焰中易生成难熔化合物 b、硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物。 （2）待测离子发生电离反应，生成离子，不产生吸收， 总吸收强度减弱，电离电位≤6eV的元素易发生电离，火焰 温度越高，干扰越严重，（如碱及碱土元素）
2.化学干扰的抑制 通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑 制或减少化学干扰： (1)释放剂一与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释 放出来。 例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。 (2)保护剂一与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物 质与其作用。 例：加入EDTA生成EDTA-Ca,避免磷酸根与钙作用。 (3)饱和剂一加入足够的干扰元素，使干扰趋于稳定。 例：用N20一C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加 入300mgL1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。 (4)电离缓冲剂一加入大量易电离的一种缓冲剂以抑制待 测元素的电离。 例：加入足量的铯盐，抑制K、Na的电离。 23:1146
23:11:46 2.化学干扰的抑制 通过在标准溶液和试液中加入某种光谱化学缓冲剂来抑 制或减少化学干扰： （1）释放剂—与干扰元素生成更稳定化合物使待测元素释 放出来。 例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。 （2）保护剂—与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物 质与其作用。 例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。 （3）饱和剂—加入足够的干扰元素，使干扰趋于稳定。 例：用N2O—C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加 入300mgL-1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。 （4）电离缓冲剂—加入大量易电离的一种缓冲剂以抑制待 测元素的电离。 例：加入足量的铯盐，抑制K、Na的电离
四、背景干扰及校正方法 背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要 有分子吸收干扰和散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。 1.分子吸收与光散射 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐 射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围 内产生干扰。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的 散射现象。 产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重 如何消除？ 23:1146
23:11:46 四、背景干扰及校正方法 背景干扰主要是指原子化过程中所产生的光谱干扰，主要 有分子吸收干扰和散射干扰，干扰严重时，不能进行测定。 1. 分子吸收与光散射 分子吸收：原子化过程中，存在或生成的分子对特征辐 射产生的吸收。分子光谱是带状光谱，势必在一定波长范围 内产生干扰。 光散射：原子化过程中，存在或生成的微粒使光产生的 散射现象。 产生正偏差，石墨炉原子化法比火焰法产生的干扰严重 如何消除？
2.背景干扰校正方法 (1)氘灯连续光谱背景校正 旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提 供的共振线通过火焰： 连续光谱通过时：测定的为背景吸收（此时的共振线吸收 相对于总吸收可忽略)； 共振线通过时， 氘灯 测定总吸收； 差值为有效吸收； 空心阴极灯 23:1146
23:11:46 2.背景干扰校正方法 (1) 氘灯连续光谱背景校正 旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提 供的共振线通过火焰； 连续光谱通过时：测定的为背景吸收(此时的共振线吸收 相对于总吸收可忽略)； 共振线通过时， 测定总吸收； 差值为有效吸收；
(2)塞曼（亿eeman)效应背景校正法 Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象； 校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当 平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的 偏振光通过火焰时，只产生背景吸收； 见下页图示： 方式：光源调制法和共振线调制法（应用较多），后者又 分为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。 优点：校正能力强（可校正背景A1.2~2.0); 可校正波长范围宽：190~900nm; 23:1146
23:11:46 （2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法 Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象； 校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当 平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的 偏振光通过火焰时，只产生背景吸收； 见下页图示： 方式：光源调制法和共振线调制法（应用较多），后者又 分为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。 优点：校正能力强（可校正背景A 1.2～2.0）； 可校正波长范围宽：190 ～ 900nm ；
背景吸收 磁场 原子化器 被分析物 Zeeman分量 偏振光 A 吸收线 被分析物和 元 背景吸收 旋转偏振器 光源吸收线 原子化器 磁场 被分析物 Zeeman分量 偏振光吸收线 旋转偏振器 光源吸收线 恒定磁场调制方式Zeeman效应背景校正原理示意图 23:1146
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内容选择： 第一节原子吸收光谱分析基本原理 basic principle of Atomic absorption spectroscopy 第二节原子吸收分光光度仪 atomic absorption spectrometer 第三节干扰的类型与抑制 interferences and elimination 第四节操作条件选择与应用 choice of operating condition and application 第五节原子荧光光谱分析法 atomic fluorescence spectrometry,AFE 结束 23:146
23:11:46 内容选择: 第一节 原子吸收光谱分析基本原理 basic principle of Atomic absorption spectroscopy 第二节 原子吸收分光光度仪 atomic absorption spectrometer 第三节 干扰的类型与抑制 interferences and elimination 第四节 操作条件选择与应用 choice of operating condition and application 第五节 原子荧光光谱分析法 atomic fluorescence spectrometry,AFE 结束