实验二TTL集成门电路的逻辑 功能与参数测试
实验二 TTL集成门电路的逻辑 功能与参数测试
实验目的 L.熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能 和使用方法。 2,掌握T集成电路的使用规则。 3,掌握TL集成与非门的逻辑功能和主要 参数的测试方法
一、实验目的 1．熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能 和使用方法。 2．掌握TTL集成电路的使用规则。 3．掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要 参数的测试方法
实验仪器及设备 L.数字逻辑实验箱1台 2.元器件:直流亳安表、直流微安表、直流 电压表、74LS20×2、1K、10K 电位器、2009电阻
二、实验仪器及设备 1.数字逻辑实验箱 1台 2.元器件：直流毫安表、直流微安表、直流 电压表、74LS20×2 、1K、10K 电位器、200Ω电阻
实验内容 L.验证集成与非门的逻辑功能。 2.74LS20主要参数的测试。 3,74LS20电压传输特性
三、实验内容 1.验证TTL集成与非门的逻辑功能。 2.74LS20主要参数的测试。 3.74LS20电压传输特性
1、验证TL集成与非门的逻辑功能。 按图1接线,按表的真值表逐个测试 集成块中两个与非门的逻辑功能。 +5v 74LS20 1K 234567 A,B C, D Y, 图1 表1
1、验证TTL集成与非门的逻辑功能。 按图1接线，按表1的真值表逐个测试 集成块中两个与非门的逻辑功能。 图1 表1
274LS20主要参数的测试 低电平输出电源电流和高电平输出电 源电流;低电平输入电流和高电平输入电 沉 测试电路如图2。 注74LS20为占非门两△门的输入端 +5V 作相同处理 +5V IccH 8 8 8 (b) (c 图2
2、74LS20主要参数的测试。 低电平输出电源电流和高电平输出电 源电流；低电平输入电流和高电平输入电 流 测试电路如图2。 注：74LS20为双与非门，两个门的输入端 作相同处理。 图2
3,74LS20电压传输特性。 如图3所示,调节电位器RW,使V从0V 向5变化,逐点测试Ⅵ和V0值,并将结果 记录。以便画出实验数据曲线。 +5V 10K 图3
3、74LS20电压传输特性。 如图3所示，调节电位器RW，使Vi从0V 向5V变化，逐点测试Vi和VO值，并将结果 记录。以便画出实验数据曲线。 图3
四、实验记录 抒实验结果记录到表中 N CCL (mA) (mA)(mA)(mA) V 00.20.40.60.81.01.52.02.53.03.5 V(V)
四、实验记录： 将实验结果记录到表中
四,实验结果分析 LJL与非门闲置输入端的有那些处置方 法? 2画出实测的电压传输特性曲线,并从中 读出个有关参数值
四、实验结果分析 1.TTL与非门闲置输入端的有那些处置方 法？ 2.画出实测的电压传输特性曲线，并从中 读出个有关参数值
